[发明专利]一种识别地层产状的方法和地层参数的反演方法

说明书

本发明公开了一种识别地层产状的方法和地层参数的反演方法，包括如下步骤：获取电成像仪器每个极板上的合成测井曲线；对每条合成测井曲线进行预分层，得到每条合成测井曲线的预分层界面位置；依次选取包含预分层界面的深度段作为参考段，对其它极板上的合成测井曲线进行相关对比，得到各个合成测井曲线的有效层界面；对所有极板上的合成测井曲线的有效层界面按深度进行排序，获得地层界面并计算产状信息。进一步地，在地层分层的基础上，结合双侧向资料建立正演模型，通过反演得到泥浆侵入深度、侵入带与原状地层电阻率。本发明提取的地层界面与测井图像吻合较好，产状信息更准确，反演出的地层参数可以定量描述泥浆的侵入特性。

技术领域

本发明涉及油气资源地球物理勘查技术领域，特别涉及一种识别地层产状的方法和地层参数的反演方法。

背景技术

为了有效探测油气层，在油气田勘探开发的过程中，测井资料数字处理成为广大测井解释人员的主要任务之一，现有的商业软件中的地层产状计算都是基于固定窗长的相关对比法，这种方法的优点是计算速度快，但是缺点是无法识别出层界面，计算出的地层产状是窗长范围内所有层界面倾角的综合均值，这种产状信息可以反映出窗长范围内层界面的大致趋势，但是无法反映出每个层界面的精确倾角与倾向，无法应用于精细沉积分析。为此，测井解释人员通常的做法是选择手工方式，通过软件的人机交互功能逐一拾取层界面并计算地层产状，这种做法需要付出很大的工作量，且效率不高。

此外，目前电成像测井与双侧向测井是油气勘探的两项重要技术手段，电成像测井的探测深度约为2厘米，因此，电成像测井仅能获取井壁很浅的地层视电阻率信息，对井壁地层特征进行评价；双侧向测井的深探测深度和浅探测深度分别约为110厘米和20厘米，因此，双侧向测井能够获取距离井壁20厘米之外的视电阻率信息，对渗透性较好的地层进行判别。

但是，通过电成像测井与双侧向测井，均无法获取介于探测深度2至20厘米之间区域的地层电阻率信息，因而很难对该区域内的泥浆侵入特性进行精细评价。因此考虑如何通过电成像与双侧向测井信息来进行联合反演，进而精确获取全井段地层的泥浆侵入信息，对地层的渗透性评价与储层判别具有重要意义。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种识别地层产状的方法和地层参数的反演方法，能够精确获取全井段地层的泥浆侵入信息。

为了达到本发明目的，本发明实施例的技术方案是这样实现的：

本发明实施例提供了一种识别地层产状的方法，包括：

获取电成像仪器每个极板上的合成测井曲线；

对每条合成测井曲线进行预分层，得到每条合成测井曲线的预分层界面位置；

依次选取包含预分层界面位置的深度段作为参考段，对其它极板上的合成测井曲线进行相关对比，得到各个合成测井曲线的有效层界面；

对所有极板上的合成测井曲线的有效层界面按深度进行排序，获得地层界面并计算地层产状信息。

进一步地，所述获取电成像仪器每块极板上的合成测井曲线，具体包括：

对所述每个极板内若干个纽扣电极的测井曲线进行深度对齐；

对所述每个极板内每个采样点上若干个钮扣电极的测井数据求取平均值，将所述平均值作为所述采样点的测量值，从而得到所述每个极板上的合成测井曲线。

进一步地，所述获取电成像仪器每块极板上的合成测井曲线之前，所述方法还包括：

对所述每个极板内每个采样点上所有钮扣电极的测井数据进行升序或降序排序，按照预设的第一剔除比例值剔除较大测井数据，以及第二剔除比例值剔除较小测井数据。

进一步地，所述对每条合成测井曲线进行预分层，得到每条合成测井曲线的预分层界面位置的步骤，具体包括：