[发明专利]一种识别地层产状的方法和地层参数的反演方法

权利要求书

1.一种识别地层产状的方法，其特征在于，包括：

获取电成像仪器每个极板上的合成测井曲线；

对每条合成测井曲线进行预分层，得到每条合成测井曲线的预分层界面位置；

依次选取包含预分层界面位置的深度段作为参考段，对其它极板上的合成测井曲线进行相关对比，得到各个合成测井曲线的有效层界面；所述依次选取包含预分层界面位置的深度段作为参考段，对其它的合成测井曲线进行相关对比，得到各个合成测井曲线的有效层界面的步骤，具体包括：对所述每个极板上的合成测井曲线执行如下步骤：选取每个极板上的所述合成测井曲线作为参考曲线，将其它极板上的所述合成测井曲线作为对比曲线；在参考曲线上，按照深度顺序依次选取三个所述预分层界面的深度段数据作为参考段，第一个深度点与第三个深度点之间的深度差为本次对比窗长；在各对比曲线上，使用相关对比法在预设的探索长度内依次计算出最大相关系数时的对比段中点深度；计算满足最大相关系数大于预设的相关系数阈值的对比曲线条数，检测所述对比曲线条数是否大于或等于预设的对比曲线条数阈值，如果大于或等于预设的对比曲线条数阈值，将参考曲线中的所述预分层界面作为有效层界面，将所述获得最大相关系数时的对比段中点深度，作为与参考曲线中目标层界面相同层的层界面深度；对参考曲线上的所有预分层界面进行相关对比，得到该极板上的合成测井曲线的所有有效层界面；

对所有极板上的合成测井曲线的有效层界面按深度进行排序，获得地层界面并计算地层产状信息。

2.根据权利要求1所述的识别地层产状的方法，其特征在于，所述获取电成像仪器每块极板上的合成测井曲线，具体包括：

对所述每个极板内若干个纽扣电极的测井曲线进行深度对齐；

对所述每个极板内每个采样点上若干个钮扣电极的测井数据求取平均值，将所述平均值作为所述采样点的测量值，从而得到所述每个极板上的合成测井曲线。

3.根据权利要求1所述的识别地层产状的方法，其特征在于，所述获取电成像仪器每块极板上的合成测井曲线之前，所述方法还包括：

对所述每个极板内每个采样点上所有钮扣电极的测井数据进行升序或降序排序，按照预设的第一剔除比例值剔除较大测井数据，以及第二剔除比例值剔除较小测井数据。

4.根据权利要求1所述的识别地层产状的方法，其特征在于，所述对每条合成测井曲线进行预分层，得到每条合成测井曲线的预分层界面位置的步骤，具体包括：

对每条所述合成测井曲线进行平滑滤波处理；

获取每条所述合成测井曲线对应的活度曲线和对比度曲线；

求取每条活度曲线的极大值点，并当极大值点在预设的窗长阈值范围内与其余采样点的对比度值大于预设的对比度阈值时，将所述极大值点的深度作为所述合成测井曲线的预分层界面位置。

5.根据权利要求1所述的识别地层产状的方法，其特征在于，所述在各对比曲线上，使用相关对比法在预设的探索长度内依次计算出最大相关系数时的对比段中点深度的步骤，具体包括：

在各对比曲线上，在预设的探索长度范围内依次选取与本次对比窗长长度相等的对比段，计算各对比段与参考段的合成测井曲线的相关系数，记录每次探索长度范围内的最大相关系数和获得最大相关系数时的对比段中点深度。

6.根据权利要求1所述的识别地层产状的方法，其特征在于：所述方法还包括：

当相邻两个所述有效层界面的深度差小于预设的深度阈值时，或者当所述相邻两个所述有效层界面存在交叉时，在所述获得的地层界面中，去除所述相邻两个有效层界面中相关系数小的有效层界面。