[发明专利]一种管道环焊缝接头缺陷定位方法及设备在审

专利信息
申请号: 201710322393.1 申请日: 2017-05-09
公开(公告)号: CN107014903A 公开(公告)日: 2017-08-04
发明(设计)人: 张田利;胡艳华;牛虎理;张东浩;李春润;董连江;杨华庆;刘剑;龙斌;张建护 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团公司;中国石油集团海洋工程有限公司;中国石油集团工程技术研究院
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N23/04
代理公司: 北京华沛德权律师事务所11302 代理人: 马苗苗
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 管道 焊缝 接头 缺陷 定位 方法 设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及检测领域,尤其涉及一种管道环焊缝接头缺陷定位方法及设备。

背景技术

对管道接头环焊缝缺陷的准确定位是非常重要的,目前,管道接头环焊缝缺陷的定位和检测主要采用切片法,其工艺为首先用性能和精度满足要求的超声检测设备,对待检的管道环焊缝接头进行超声检测;根据超声检测到的缺陷位置和缺陷设定情况划定试块加工位置,依次进行切片加工、切片双面金相腐蚀、腐蚀面拍照记录;最后将超声检测结果与切片腐蚀面照片及切片实物进行对照检查分析,从而确定和记录缺陷的位置、缺陷类型、缺陷尺寸等。

但是,显然的,现有对管道接头环焊缝缺陷的定位,切片加工检测量巨大,根据管径和缺陷数量的不同,切片的加工量达数百片至上千片,加工周期长,劳动强度大,因此定位管道接头环焊缝缺陷的效率较低。而且,缺陷的有无仅根据超声检测结果和缺陷设定情况的确定,而超声检测技术本身具有对气孔等体积型缺陷检出率不理想的不足,因此对管道接头的焊缝缺陷的检出准确性和可信度也较低。

发明内容

本发明实施例通过提供一种管道环焊缝接头缺陷定位方法及设备,解决了现有技术中对管道接头的焊缝缺陷的检出准确性和可信度较低、以及定位效率较低的技术问题。

第一方面,本发明实施例提供了一种管道环焊缝接头缺陷定位方法,包括:

对管道环焊缝接头进行超声检测,以检测出所述管道环焊缝接头的整条焊缝中的第一类缺陷信息,所述第一类缺陷信息包括M条缺陷记录,M为大于1的整数;

对所述管道环焊缝接头进行射线检测,以检测出所述管道环焊缝接头的整条焊缝中的第二类缺陷信息,所述第二类缺陷信息包括M条缺陷记录;

将所述第一类缺陷信息的M条缺陷记录与所述第二类缺陷信息的M条缺陷记录进行逐条对比,以对比出满足相互验证条件的缺陷记录和不满足所述相互验证条件的缺陷记录;

将满足相互验证条件的缺陷记录写入缺陷定位结果文件;

根据从所述管道环焊缝接头上得到的补充检验用切片,对不满足所述相互验证条件的缺陷记录进行验证,验证通过的各条缺陷记录写入所述缺陷定位结果文件。

可选的,所述对管道环焊缝接头进行超声检测,以检测出所述管道环焊缝接头的整条焊缝中的第一类缺陷信息,包括:

通过经校准后的超声检测设备,对所述管道环焊缝接头进行扫查,以扫查到波形和图像数据;

分析所述波形和图像数据,以得到所述管道环焊缝接头的整条焊缝中的第一类缺陷信息;

将所述第一类缺陷信息的M条缺陷记录进行逐条记录在超声检测结果文档;

将所述超声检测结果文档中的M条缺陷记录,按缺陷与超声扫查起点之间的周向距离进行顺序排列。

可选的,所述第一类缺陷信息中的M条缺陷记录中的每条缺陷记录包括缺陷类型、缺陷尺寸缺陷、缺陷距超声扫查起点的周向距离。

可选的,所述对所述管道环焊缝接头进行射线检测,以检测出所述管道环焊缝接头的整条焊缝中的第二类缺陷信息,包括:

通过单壁单影内透法对所述管道环焊缝接头进行射线检测,以得到射线透照底片;

分析所述射线透照底片,以得到所述管道环焊缝接头的整条焊缝中的第二类缺陷信息;

将所述第二类缺陷信息的M条缺陷记录进行逐条记录在射线检测结果文档;

将所述射线检测结果文档中的M条缺陷记录,按缺陷与超声扫查起点之间的周向距离进行顺序排列。

可选的,所述第二类缺陷信息的M条缺陷记录中的每条缺陷记录应包括缺陷性质、缺陷尺寸、缺陷距超声扫查起点的周向距离。

可选的,所述补充检验用切片,具体为:根据不满足所述相互验证条件的缺陷记录,在管道环焊缝接头上切割的检验试块,进行加工而成。

第二方面,本发明实施例提供了一种管道环焊缝接头缺陷定位设备,包括:

超声检测装置,用于对管道环焊缝接头进行超声检测,以检测出所述管道环焊缝接头的整条焊缝中的第一类缺陷信息,所述第一类缺陷信息包括M条缺陷记录,M为大于1的整数;

射线检测装置,用于对所述管道环焊缝接头进行射线检测,以检测出所述管道环焊缝接头的整条焊缝中的第二类缺陷信息,所述第二类缺陷信息包括M条缺陷记录;

处理器,用于将所述第一类缺陷信息的M条缺陷记录与所述第二类缺陷信息的M条缺陷记录进行逐条对比,以对比出满足相互验证条件的缺陷记录和不满足所述相互验证条件的缺陷记录;

所述处理器,还用于将满足相互验证条件的缺陷记录写入缺陷定位结果文件;

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