[发明专利]一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统

说明书

技术领域

本发明涉及计算机测试的技术领域，具体涉及到一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统。

背景技术

OCP全称Open Compute Project，是Facebook主导的开源项目，它重新设计硬件，使其更高效、灵活和可扩展。PCIE作为OCP设计中重要的IO接口，其信号完整性测试必不可少。在OCP设计中，PCIE接口进行了重新定义，封装比传统的标准PCIE更小，对信号完整性测试的挑战更大，用探头直接在接口上点测非常难以实现，且测试精度无法得到保障。

因此，在本领域亟需解决上述问题，本发明提出一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统。

发明内容

基于现有技术的上述问题，本发明提出了一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统，其主要思想是：测试治具上包含OCP PCIE接口，方便测试治具与被测设备的连接，在测试治具上将PCIE及Clock信号以SMP接口的方式引出，方便测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器的连接。

本发明提供如下技术方案：

一方面，本发明提供一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法，包括：

测试治具与被测设备连接，所述测试治具将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，所述测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器连接，开始测试。

其中，所述测试治具包括PCIE TX信号接口。

其中，所述测试治具包括OCP PCIE接口，测试治具通过所述OCP PCIE接口与被测设备连接。

其中，将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，在信号传输路径上仅包括连接器。

其中，所述测试治具与示波器连接紧密牢固。

另外，本发明还提供一种支持OCP接口的PCIE信号测试治具系统，所述测试治具系统包括：

测试治具，被测设备以及示波器；测试治具与被测设备连接，所述测试治具将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，所述测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器连接。

其中，所述测试治具包括PCIE TX信号接口。

其中，所述测试治具包括OCP PCIE接口，测试治具通过所述OCP PCIE接口与被测设备连接。

其中，将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，在信号传输路径上仅包括连接器。

其中，所述测试治具与示波器连接紧密牢固。

本发明提出一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统，测试治具上包含OCP PCIE接口，方便测试治具与被测设备的连接，在测试治具上将PCIE及Clock信号以SMP接口的方式引出，方便测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器的连接，操作简便；测试治具与示波器连接紧密、牢固，测试精度高。

附图说明

图1是本发明的测试治具俯视图；

图2是本发明的测试治具仰视图；

具体实施方式

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

一方面，本发明提供一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法，测试治具俯视图和仰视图分别如附图1、2所示，包括：

测试治具与被测设备连接，所述测试治具将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，所述测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器连接，开始测试。

附图1为测试治具俯视图，包括一对CLK信号接口，8对PCIE TX信号接口，图中的圆形表示SMP接口，这些接口的目的是方便测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器的连接。附图2为测试治具的仰视图，包含一个OCP PCIE接口，此接口的目的是方便测试治具与被测设备的连接。

根据图1所示，设计测试治具的原理图，本发明的原理是将OCP接口的PCIE及Clock信号以SMP接口的形式引出来，在信号传输路径上除了连接器不需要加其他任何器件，以保证引出信号的真实性；测试治具与示波器连接紧密、牢固，测试精度高。

本发明中提到治具的用途是用来测试，那么首先要保证信号在治具上传输不会对信号产生影响。为实现此目的，我们要从板材、走线宽度、走线距离、阻抗要求等方面进行严格的仿真，从而制定出合理的布线规则；