[发明专利]一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统在审
| 申请号： | 201710317475.7 | 申请日： | 2017-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN107145416A | 公开（公告）日： | 2017-09-08 |
| 发明（设计）人： | 贾永涛 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司37205 | 代理人： | 张亮 |
| 地址： | 450000 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 支持 ocp 接口 pcie 信号 测试 方法 系统 | ||
1.一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法，其特征在于：
测试治具与被测设备连接，所述测试治具将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，所述测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器连接，开始测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述测试治具包括PCIE TX信号接口。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述测试治具包括OCP PCIE接口，测试治具通过所述OCP PCIE接口与被测设备连接。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，在信号传输路径上仅包括连接器。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述测试治具与示波器连接紧密牢固。
6.一种支持OCP接口的PCIE信号测试治具系统，其特征在于：所述测试治具系统包括：测试治具，被测设备以及示波器；测试治具与被测设备连接，所述测试治具将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，所述测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器连接。
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于：所述测试治具包括PCIE TX信号接口。
8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于：步骤102的提示步骤具体为：所述测试治具包括OCP PCIE接口，测试治具通过所述OCP PCIE接口与被测设备连接。
9.根据权利要求6所述的系统，其特征在于：将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出，在信号传输路径上仅包括连接器。
10.根据权利要求6所述的系统，其特征在于：所述测试治具与示波器连接紧密牢固。
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