[发明专利]承载装置、反应腔室及半导体加工设备有效
申请号: | 201710303984.4 | 申请日: | 2017-05-03 |
公开(公告)号: | CN108796467B | 公开(公告)日: | 2020-08-21 |
发明(设计)人: | 王桐 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | C23C14/50 | 分类号: | C23C14/50;H01L21/687 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;张天舒 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 承载 装置 反应 半导体 加工 设备 | ||
1.一种承载装置,包括可升降的基座,在所述基座上竖直设置有沿其轴向对称分布的至少三个主支撑柱,所述主支撑柱的上端高于所述基座的上表面,用以承载托盘,其特征在于,还包括保护组件,所述保护组件用于在置于所述主支撑柱上的所述托盘倾斜时,阻挡所述托盘的边缘。
2.根据权利要求1所述的承载装置,其特征在于,所述保护组件包括至少三个阻挡柱,各个阻挡柱一一对应地与各个所述主支撑柱连接,并且每个所述阻挡柱位于所述主支撑柱的远离所述基座中心的一侧,且所述阻挡柱的上端高于置于所述主支撑柱上的托盘的下表面,低于置于所述主支撑柱上的托盘的上表面。
3.根据权利要求1所述的承载装置,其特征在于,所述保护组件包括环形阻挡件,所述环形阻挡件与所述主支撑柱连接,且所述环形阻挡件环绕在所述主支撑柱所在圆周的外围,且所述环形阻挡件的上端高于置于所述主支撑柱上的托盘的下表面,低于置于所述主支撑柱上的托盘的上表面。
4.根据权利要求2或3所述的承载装置,其特征在于,还包括至少三个连接组件,各个连接组件与各个所述主支撑柱一一对应;所述连接组件用于将所述保护组件固定在所述主支撑柱上。
5.根据权利要求4所述的承载装置,其特征在于,所述连接组件包括辅助支撑柱、连接件和固定件,其中,
所述辅助支撑柱竖直设置在所述基座上,且位于所述主支撑柱的远离所述基座中心的一侧;所述辅助支撑柱的上端低于所述主支撑柱的上端;
所述固定件分别与所述主支撑柱和所述辅助支撑柱连接;
所述连接件分别与所述固定件和所述保护组件连接。
6.根据权利要求5所述的承载装置,其特征在于,所述连接件与所述保护组件固定连接,且在所述连接件上设置有通孔,所述连接件通过所述通孔套设在所述辅助支撑柱上,且叠置在所述固定件上;
在所述辅助支撑柱的外周壁的上部设置有外螺纹;所述连接组件还包括螺母,所述螺母与所述辅助支撑柱的所述外螺纹相配合,以将所述连接件与所述固定件的固定连接。
7.根据权利要求1所述的承载装置,其特征在于,所述保护组件包括至少三个阻挡柱,各个阻挡柱与所述基座连接,且一一对应地位于所述主支撑柱的远离所述基座中心的一侧,所述阻挡柱的上端高于置于所述主支撑柱上的托盘的下表面,低于置于所述主支撑柱上的托盘的上表面。
8.根据权利要求2或3或5所述的承载装置,其特征在于,所述保护组件所在圆周的直径比所述托盘的直径大2~3mm。
9.一种反应腔室,包括内衬、压环和承载装置,所述承载装置能够上升至工艺位置或下降至装卸装置;所述压环在所述承载装置位于所述工艺位置时,压住托盘的边缘处;所述内衬环绕设置在所述反应腔室的侧壁内侧,且在所述承载装置离开所述工艺位置时,支撑所述压环;其特征在于,所述承载装置采用权利要求1-7任意一项所述的承载装置。
10.一种半导体加工设备,其特征在于,采用权利要求9所述的反应腔室。
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