[发明专利]封装结构及其制造方法有效
申请号: | 201710299610.X | 申请日: | 2017-05-02 |
公开(公告)号: | CN108400124B | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 林柏均 | 申请(专利权)人: | 南亚科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L21/60 |
代理公司: | 11279 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王正茂;丛芳<国际申请>=<国际公布>= |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;TW |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 弹性凸块 封装结构 内连接层 钝化层 开口 导电层配置 导电层 精准度 节距 配置 嵌入 制造 | ||
1.一种封装结构,其特征在于,包含:
内连接层;
钝化层,配置于所述内连接层上,其中所述钝化层具有至少一个开口;
至少一个弹性凸块,配置于所述内连接层上,其中所述弹性凸块包括嵌入部分以及凸出部分,所述凸出部分的宽度大于所述嵌入部分的宽度,所述嵌入部分嵌入至所述开口中;以及
导电层,配置于所述弹性凸块以及所述钝化层上。
2.如权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述弹性凸块的材料包含聚酰亚胺、聚二甲基硅氧烷,或聚胺酯。
3.如权利要求1所述的封装结构,其特征在于,所述钝化层的材料包含二氧化硅。
4.如权利要求1所述的封装结构,其特征在于,还包含:
至少一个耦接块,配置于所述开口中,其中所述耦接块嵌入至所述弹性凸块中。
5.如权利要求1所述的封装结构,其特征在于,还包含:
附着层,配置于所述开口中。
6.一种形成封装结构的方法,其特征在于,包含:
形成内连接层;
在所述内连接层上形成钝化层;
开槽所述钝化层以形成至少一个开口;
在所述开口中形成至少一个弹性凸块,其中所述弹性凸块包括嵌入部分以及凸出部分,所述凸出部分的宽度大于所述嵌入部分的宽度,所述嵌入部分嵌入至所述开口中;以及
在所述弹性凸块以及所述钝化层上形成导电层。
7.如权利要求6所述的形成封装结构的方法,其特征在于,还包含:
在所述开口中形成至少一个耦接块,使得所述耦接块嵌入至所述弹性凸块中。
8.如权利要求6所述的形成封装结构的方法,其特征在于,开槽所述钝化层还包含:
在钝化层及所述内连接层中开槽所述内连接层以形成所述开口。
9.一种形成封装结构的方法,其特征在于,包含:
形成内连接层;
开槽所述内连接层以形成至少一个开口;
在所述开口中形成至少一个弹性凸块,其中所述弹性凸块包括嵌入部分以及凸出部分,所述凸出部分的宽度大于所述嵌入部分的宽度,所述嵌入部分嵌入至所述开口中;以及
在所述弹性凸块以及所述内连接层上形成导电层。
10.如权利要求9所述的形成封装结构的方法,其特征在于,开槽所述内连接层后,至少一个金属线自所述内连接层中曝露。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南亚科技股份有限公司,未经南亚科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710299610.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:晶圆级异质集成高频系统及其制作方法
- 下一篇:一种集成电路封装引线框架