[发明专利]可见光和紫外选择性光电探测器有效

专利信息
申请号: 201710283419.6 申请日: 2017-04-26
公开(公告)号: CN106952968B 公开(公告)日: 2018-06-08
发明(设计)人: 黄晓敏 申请(专利权)人: 黄晓敏
主分类号: H01L31/02 分类号: H01L31/02;H01L31/09
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 冯筠
地址: 528000 广东省佛山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 薄膜晶体管 紫外探测 可见光 光电探测器 可见光探测 紫外选择性 探测器结构 绝缘基板 器件结构 探测效率 功能层 沟道层 衬底 申请 优化
【说明书】:

本申请提供一种可见光和紫外选择性光电探测器,包括绝缘基板上的紫外探测部分、薄膜晶体管、横向可见光探测部分,合理设计探测器结构,通过将紫外探测部分、可见光探测部分和薄膜晶体管集成在一个衬底上,并且紫外探测的功能层作为薄膜晶体管的沟道层,缩小器件尺寸,优化了器件结构,通过薄膜晶体管实现可见光和紫外探测的选择,同时能够提升探测效率。

技术领域

发明涉及一种传感器,具体涉及一种可见光和紫外选择性光电探测器。

背景技术

光电传感器一般由处理通路和处理元件两部分组成。其基本原理是以光电效应为基础,把被测量的变化转换成光信号的变化,然后借助光电元件进一步将非电信号转换成电信号。光电效应是指用光照射某一物体,可以看作是一连串带有一定能量为的光子轰击在这个物体上,此时光子能量就传递给电子,并且是一个光子的全部能量一次性地被一个电子所吸收,电子得到光子传递的能量后其状态就会发生变化,从而使受光照射的物体产生相应的电效应。通常把光电效应分为三类:(1)在光线作用下能使电子逸出物体表面的现象称为外光电效应,如光电管、光电倍增管等;(2)在光线作用下能使物体的电阻率改变的现象称为内光电效应,如光敏电阻、光敏晶体管等;(3)在光线作用下,物体产生一定方向电动势的现象称为光生伏特效应,如光电池等。

光敏二极管是最常见的光传感器。光敏二极管的外型与一般二极管一样,当无光照时,它与普通二极管一样,反向电流很小,称为光敏二极管的暗电流;当有光照时,载流子被激发,产生电子-空穴,称为光电载流子。在外电场的作用下,光电载流子参与导电,形成比暗电流大得多的反向电流,该反向电流称为光电流。光电流的大小与光照强度成正比,于是在负载电阻上就能得到随光照强度变化而变化的电信号。

目前,探测器通常是单一探测器,功能层仅对一种待探测光敏感,没有出现一种集成在一个芯片上且能够选择性的对可见光或紫外检测的探测器,现在实现的方法是通过集成多种传感器然后通过选择电路进行选择,这样光电探测器的尺寸比较大,没有充分利用现有的半导体制造技术。

发明内容

为了提高气体传感器的探测效率,并且实现可见光和紫外选择性探测的传感器,通过对结构和材料选择进行同时改进,本发明提供一种可见光和紫外选择性光电探测器,包含:

绝缘基板;

所述绝缘基板上设置第一电极,所述第一电极设置为薄膜晶体管的栅电极;

第一绝缘层,所述第一绝缘层覆盖在第一电极和绝缘基板未被第一电极覆盖的区域上;

氧化锌层,所述氧化锌层覆盖在第一绝缘层上,氧化锌层作为紫外探测部分功能层的同时作为薄膜晶体管的沟道层;

在所述氧化锌层上形成紫外探测部分的正极和负极、薄膜晶体管的源极和漏极;

覆盖在薄膜晶体管上的透明绝缘层,所述透明绝缘层上设置横向可见光探测部分;

所述横向可见光探测部分包括两个电极和所述两个电极之间的铜铟镓硒功能层;

所述负极与薄膜晶体管的源极或漏极相连,所述横向可见光探测部分的两个电极之中的一个电极与薄膜晶体管的漏极或源极相连。

进一步地,所述负极与薄膜晶体管的源极相连时,所述横向可见光探测部分的两个电极之中的一个电极与薄膜晶体管的漏极相连。

进一步地,所述负极与薄膜晶体管的漏极相连时,所述横向可见光探测部分的两个电极之中的一个电极与薄膜晶体管的源极相连。

进一步地,所述负极与所述横向可见光探测部分的两个电极之中的一个电极均与薄膜晶体管的源极相连。

进一步地,所述负极与所述横向可见光探测部分的两个电极之中的一个电极均与薄膜晶体管的漏极相连。

进一步地,所述待检测光从侧面射入所述探测器。

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