[发明专利]存取闪存模块的方法及相关的闪存控制器与记忆装置有效
申请号: | 201710279848.6 | 申请日: | 2017-04-26 |
公开(公告)号: | CN107403640B | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
发明(设计)人: | 杨宗杰;许鸿荣 | 申请(专利权)人: | 慧荣科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C16/08 | 分类号: | G11C16/08;G11C16/10;G11C16/04 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 存取 闪存 模块 方法 相关 控制器 记忆 装置 | ||
本发明公开了一种存取一闪存模块的方法,其中所述闪存模块是包括了多个闪存芯片的一立体闪存模块,每一个闪存芯片包括了多个区块,每一个区块包括了多个数据页;以及所述方法包括有:规划所述多个闪存芯片以使得所述多个闪存芯片具有至少一第一超级区块以及至少一第二超级区块;以及指派所述至少一第二超级区块以用来储存在一数据写入至所述至少一第一超级区块的过程中所编码产生的多组暂时性的校验码。本发明的有益之处在于,除了可以对数据写入错误、字线断路以及字线短路所造成的数据读取错误进行更正之外,也可以大幅降低闪存控制器中缓冲存储器的容量需求,故可以大幅降低闪存控制器的成本以及闪存模块的使用效率。
技术领域
本发明涉及闪存,尤其是涉及一种存取闪存模块的方法及相关的闪存控制器与记忆装置。
背景技术
为了让闪存能够有更高的密度以及更大的容量,闪存的制程也朝向立体化的发展,而产生了几种不同的立体NAND型闪存(3D NAND-type flash)。在立体NAND型闪存中,由于整体结构的不同以及浮闸形状位置的改变,因此在数据的写入以及读取上也较传统的平面NAND型闪存多出了些许的问题。举例来说,在某些立体NAND型闪存中,会将多条字线(word line)定义为一字线组,而所述字线组会共同具有部分的控制电路,进而导致当数据写入到所述字线组的一条字在线的浮闸晶体管发生失败时(写入失败),会连带导致所述字线组的其他字在线的浮闸晶体管的数据发生错误;此外,若是所述字线组中的一条字线发生断路或短路的状况时,也会连带影响到所述字线组的其他字在线的浮闸晶体管的数据发生错误,因此,如何就上述问题提出一种错误更正方式,以尽可能地维持数据的正确性,且又不会浪费存储器空间以节省成本,是一个重要的课题。
发明内容
因此,本发明的目的的一在于提出一种存取一闪存模块的方法及相关的闪存控制器与记忆装置,其使用类似容错式磁盘阵列(Redundant Array of Independent Disks,RAID)的错误更正方式,但是却不会大幅浪费闪存空间,且在闪存控制器的处理过程中也仅需要很少量的缓冲存储器空间,以解决现有技术中的问题。
在本发明的一个实施例中,公开了一种存取一闪存模块的方法,其中所述闪存模块是一立体闪存模块,所述闪存模块包括了多个闪存芯片,每一个闪存芯片包括了多个多层式储存区块以及多个单层式储存区块,每一个区块包括了多个数据页;每一个区块包括了分别位于多个不同平面的多条字线以及位线来控制的多个浮闸晶体管,且每一条字在线的浮闸晶体管构成了所述多个数据页中的至少一数据页;以及所述方法包括有:对一数据进行编码以产生至少一组校验码,其中所述数据是准备写入到所述多个闪存芯片的一第一超级区块中,其中所述第一超级区块包括了所述多个闪存芯片中每一个闪存芯片的一个多层式储存区块;将所述数据写入至所述第一超级区块;以及将所述至少一组校验码写入至一第二超级区块中,其中所述第二超级区块包括了所述多个闪存芯片中每一个闪存芯片的一个单层式储存区块。
在本发明的另一个实施例中,公开了一种闪存控制器,其中所述闪存控制器是用来存取一闪存模块,所述闪存模块是一立体闪存模块,所述闪存模块包括了多个闪存芯片,每一个闪存芯片包括了多个多层式储存区块以及多个单层式储存区块,每一个区块包括了多个数据页;每一个区块包括了分别位于多个不同平面的多条字线以及位线来控制的多个浮闸晶体管,且每一条字在线的浮闸晶体管构成了所述多个数据页中的至少一数据页;以及所述闪存控制器包括有:一存储器、一微处理器以及一编解码器。所述存储器用来储存一程序代码;所述微处理器用来执行所述程序代码以控制对所述闪存模块的存取;以及在本实施例的操作中,所述编解码器对一数据进行编码以产生至少一组校验码,其中所述数据是准备写入到所述多个闪存芯片的一第一超级区块中,其中所述第一超级区块包括了所述多个闪存芯片中每一个闪存芯片的一个多层式储存区块;以及所述微处理器将所述数据写入至所述第一超级区块,以及将所述至少一组校验码写入至一第二超级区块中,其中所述第二超级区块包括了所述多个闪存芯片中每一个闪存芯片的一个单层式储存区块。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于慧荣科技股份有限公司,未经慧荣科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710279848.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。