[发明专利]一种电子耳蜗刺激器芯片防静电测试方法

权利要求书

1.一种电子耳蜗刺激器芯片防静电测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

将芯片各输入输出管脚与电容相连，电容与芯片输入输出管脚相连一端称引脚，电容的另一端称电极口，芯片的电源脚和地脚通过一个电容相连；

对芯片的单输入输出管脚进行静电放电测试；

对芯片的双输入输出管脚进行静电放电测试；

对芯片的电源脚和地脚进行静电放电测试，

其中，对单输入输出管脚静电放电测试包括以下步骤：

地脚接地，对一个引脚施加正的静电放电电压对地放电，电源脚与其余电极口皆悬空；

地脚接地，对一个引脚施加负的静电放电电压对地放电，电源脚与其余电极口皆悬空；

地脚接地，对一个电极口施加正的静电放电电压对地放电，电源脚与其余电极口皆悬空；

地脚接地，对一个电极口施加负的静电放电电压对地放电，电源脚与其余电极口皆悬空；

电源脚接地，对一个引脚施加正的静电放电电压对电源放电，地脚与其余电极口皆悬空；

电源脚接地，对一个引脚施加负的静电放电电压对电源放电，地脚与其余电极口皆悬空；

电源脚接地，对一个电极口施加正的静电放电电压对电源放电，地脚与其余电极口皆悬空；

电源脚接地，对一个电极口施加负的静电放电电压对电源放电，地脚与其余电极口皆悬空，

其中，在每一步对被测引脚或被测电极口对应的引脚进行电流电压扫描，直到记录到导致IV曲线偏离时的静电放电电压。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对芯片的双输入输出管脚进行静电放电测试，包括以下步骤：

对一个引脚施加正的静电放电电压，其余输入输出管脚皆接地，电源脚与地脚悬空；

对一个引脚施加负的静电放电电压，其余输入输出管脚皆接地，电源脚与地脚悬空；

对一个电极口施加正的静电放电电压，其余输入输出管脚皆接地，电源脚与地脚悬空；

对一个电极口施加负的静电放电电压，其余输入输出管脚皆接地，电源脚与地脚悬空；

对一个引脚施加正的静电放电电压，其余电极口皆接地，电源脚与地脚悬空；

对一个引脚施加负的静电放电电压，其余电极口皆接地，电源脚与地脚悬空；

对一个电极口施加正的静电放电电压，其余电极口皆接地，电源脚与地脚悬空；

对一个电极口施加负的静电放电电压，其余电极口皆接地，电源脚与地脚悬空，

其中，在每一步对被测引脚或被测电极口对应的引脚进行电流电压扫描，直到记录到导致IV曲线偏离时的静电放电电压。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对芯片的电源脚和地脚进行静电放电测试，包括以下步骤：

电源脚施加正的静电放电电压，地脚接地，其余电极口皆悬空；

电源脚施加负的静电放电电压，地脚接地，其余电极口皆悬空，

其中，在每一步对被测引脚或被测电极口对应的引脚进行电流电压扫描，直到记录到导致IV曲线偏离时的静电放电电压。