[发明专利]一种提高陶瓷QFP228封装芯片抗随机振动性能的板级加固方法在审
申请号: | 201710262283.0 | 申请日: | 2017-04-20 |
公开(公告)号: | CN107393838A | 公开(公告)日: | 2017-11-24 |
发明(设计)人: | 祝长民;陈雷;聂伟丽;兰利东;简贵胄;王建永;韩逸飞;刘立全;陆振林;任永正;郑宏超;祝天瑞;王枭鸿;王猛;刘薇 | 申请(专利权)人: | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L23/31 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心11009 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 100076 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 陶瓷 qfp228 封装 芯片 随机 振动 性能 加固 方法 | ||
1.一种提高陶瓷QFP228封装芯片抗随机振动性能的板级加固方法,其特征在于,包括步骤如下:
步骤一、在陶瓷QFP228封装芯片(1)正下方的电路板(2)上预留灌注孔(3),将陶瓷QFP228封装芯片(1)焊接在电路板(2)上,并在陶瓷QFP228封装芯片(1)底部与电路板(2)之间留出用于环氧树脂胶(5)灌注的缝隙;
步骤二、采用E-51环氧树脂和聚酰胺树脂650,按照设定的质量比进行环氧树脂胶(5)的配制;
步骤三、通过灌注孔(3)进行环氧树脂胶(5)的灌注;
步骤四、对陶瓷QFP228封装芯片四角(12)进行环氧树脂胶(5)的粘固;
步骤五、在20℃~25℃的条件下,静置电路板(2)使环氧树脂胶(5)完全固化。
2.根据权利要求1所述的一种提高陶瓷QFP228封装芯片抗随机振动性能的板级加固方法,其特征在于:所述灌注孔(3)为圆形,直径为6.7mm。
3.根据权利要求1或2所述的一种提高陶瓷QFP228封装芯片抗随机振动性能的板级加固方法,其特征在于:所述步骤一中陶瓷QFP228封装芯片(1)底部和电路板(2)之间的用于环氧树脂胶(5)灌注的缝隙的尺寸范围为0.1mm~0.9mm。
4.根据权利要求3所述的一种提高陶瓷QFP228封装芯片的抗随机振动性能的板级加固方法,其特征在于:所述步骤二中,设定的E-51环氧树脂和聚酰胺树脂650质量比的取值范围为100:60~100:80。
5.根据权利要求1或2所述的一种提高陶瓷QFP228封装芯片的抗随机振动性能的板级加固方法,其特征在于:所述步骤三中环氧树脂胶(5)的注入量大于0.3ml,保证从陶瓷QFP228封装芯片(1)四周能看到灌注的环氧树脂胶(5)且不粘连芯片引脚(4)。
6.根据权利要求5所述的一种提高陶瓷QFP228封装芯片的抗随机振动性能的板级加固方法,其特征在于:所述步骤四中对陶瓷QFP228封装芯片(1)的四角(12)进行环氧树脂胶(5)粘固保证电路板(2)与陶瓷QFP228封装芯片(1)封装陶瓷体的贴合且环氧树脂胶(5)不粘连芯片引脚(4)。
7.根据权利要求1或2所述的一种提高陶瓷QFP228封装芯片的抗随机振动性能的板级加固方法,其特征在于:所述步骤五中,电路板(2)的静止时间大于等于48小时。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造