[发明专利]一种提高陶瓷QFP228封装芯片抗随机振动性能的板级加固方法在审

专利信息
申请号: 201710262283.0 申请日: 2017-04-20
公开(公告)号: CN107393838A 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 祝长民;陈雷;聂伟丽;兰利东;简贵胄;王建永;韩逸飞;刘立全;陆振林;任永正;郑宏超;祝天瑞;王枭鸿;王猛;刘薇 申请(专利权)人: 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56;H01L23/31
代理公司: 中国航天科技专利中心11009 代理人: 陈鹏
地址: 100076 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 陶瓷 qfp228 封装 芯片 随机 振动 性能 加固 方法
【权利要求书】:

1.一种提高陶瓷QFP228封装芯片抗随机振动性能的板级加固方法,其特征在于,包括步骤如下:

步骤一、在陶瓷QFP228封装芯片(1)正下方的电路板(2)上预留灌注孔(3),将陶瓷QFP228封装芯片(1)焊接在电路板(2)上,并在陶瓷QFP228封装芯片(1)底部与电路板(2)之间留出用于环氧树脂胶(5)灌注的缝隙;

步骤二、采用E-51环氧树脂和聚酰胺树脂650,按照设定的质量比进行环氧树脂胶(5)的配制;

步骤三、通过灌注孔(3)进行环氧树脂胶(5)的灌注;

步骤四、对陶瓷QFP228封装芯片四角(12)进行环氧树脂胶(5)的粘固;

步骤五、在20℃~25℃的条件下,静置电路板(2)使环氧树脂胶(5)完全固化。

2.根据权利要求1所述的一种提高陶瓷QFP228封装芯片抗随机振动性能的板级加固方法,其特征在于:所述灌注孔(3)为圆形,直径为6.7mm。

3.根据权利要求1或2所述的一种提高陶瓷QFP228封装芯片抗随机振动性能的板级加固方法,其特征在于:所述步骤一中陶瓷QFP228封装芯片(1)底部和电路板(2)之间的用于环氧树脂胶(5)灌注的缝隙的尺寸范围为0.1mm~0.9mm。

4.根据权利要求3所述的一种提高陶瓷QFP228封装芯片的抗随机振动性能的板级加固方法,其特征在于:所述步骤二中,设定的E-51环氧树脂和聚酰胺树脂650质量比的取值范围为100:60~100:80。

5.根据权利要求1或2所述的一种提高陶瓷QFP228封装芯片的抗随机振动性能的板级加固方法,其特征在于:所述步骤三中环氧树脂胶(5)的注入量大于0.3ml,保证从陶瓷QFP228封装芯片(1)四周能看到灌注的环氧树脂胶(5)且不粘连芯片引脚(4)。

6.根据权利要求5所述的一种提高陶瓷QFP228封装芯片的抗随机振动性能的板级加固方法,其特征在于:所述步骤四中对陶瓷QFP228封装芯片(1)的四角(12)进行环氧树脂胶(5)粘固保证电路板(2)与陶瓷QFP228封装芯片(1)封装陶瓷体的贴合且环氧树脂胶(5)不粘连芯片引脚(4)。

7.根据权利要求1或2所述的一种提高陶瓷QFP228封装芯片的抗随机振动性能的板级加固方法,其特征在于:所述步骤五中,电路板(2)的静止时间大于等于48小时。

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