[发明专利]使用存储装置的方法、存储装置和存储装置组件

权利要求书

1.一种使用存储装置的方法，所述方法包括：

将数据单元、第一码的校验单元和第二码的校验单元存储在所述存储装置的存储单元中，其中，所述数据单元和所述第一码的校验单元形成所述第一码的码字，并且其中，所述数据单元和所述第二码的校验单元形成所述第二码的码字；

将用于错误校正的所述第二码应用于所述数据单元的至少一部分中和/或所述第一码的校验单元的至少一部分中；

在校正错误之后，保留所述数据单元和所述第一码的校验单元的至少保留部分，并且删除所述第二码的校验单元的至少删除部分，从而释放被所述第二码的校验单元的删除部分所占用的存储单元；以及

在所述存储装置的后续使用期间，将新数据存储在所释放的存储单元的至少重用部分中。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括：

在存储所述第一码的数据单元和所述第二码的校验单元之后并且在应用用于错误校正的所述第二码之前，使存储装置经受数据危险过程。

3.根据权利要求2所述的方法，还包括：

在存储所述第一码的数据单元和所述第二码的校验单元之后并且在使所述存储装置经受数据危险过程之前，停用所述存储装置。

4.根据权利要求2或3所述的方法，

其中，所述数据危险过程是包括加热、机械应力和暴露于辐射的一组过程中的至少一个过程。

5.根据权利要求4所述的方法，

其中，所述数据危险过程是所述加热过程，并且其中，所述加热过程是焊接过程。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，还包括：

在应用用于所述错误校正的所述第二码之前，应用所述第一码以用于检测和/或校正所述错误和/或另外的错误。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，

其中，存储所述第二码的校验单元包括将所述第二码的校验单元存储在所述存储装置的连续区域中。

8.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，

其中，存储所述第二码的校验单元包括将所述第二码的校验单元存储在多个非连续存储单元中。

9.根据权利要求4所述的方法，

其中，在使所述存储装置经受所述数据危险过程之后对所述存储装置进行第一次激活期间自动执行：将用于错误校正的所述第二码应用于所述数据单元的至少一部分中和/或所述第一码的校验单元的至少一部分中，并且删除所述第二码的校验单元的至少删除部分。

10.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，

其中，人工地发起：将用于错误校正的所述第二码应用于所述数据单元的至少一部分中和/或所述第一码的校验单元的至少一部分中，以及删除所述第二码的校验单元的至少删除部分。

11.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，还包括：

在所述存储装置的后续使用之后，将所述第二码的校验单元再次存储在所述存储装置的存储单元的子集中。

12.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，

其中，所述第二码是分组码。

13.根据权利要求12所述的方法，

其中，所述分组码是奇偶校验码、汉明码、缩短的汉明码、萧Hsiao码、缩短的萧码、t位错误校正BCH码、缩短的t位错误校正BCH码、里德-米勒Reed-Muller码、缩短的里德-米勒码、循环码、缩短的循环码、里德-所罗门Reed-Solomon码、缩短的里德-所罗门码、改进的里德-所罗门码、独立冗余磁盘阵列RAID码、字节校正码或低密度奇偶校验码、非线性码、卷积码或者turbo码，其中t≥2。