[发明专利]一种X射线无损检测系统及其检测方法

权利要求书

1.一种X射线无损检测系统，其特征在于，所述系统包括：检测终端、X射线机、X射线机车、数字成像板和成像板车，其中，

所述检测终端包括中央控制器、位置调节装置、显示装置和通信装置；

所述位置调节装置依次与所述中央控制器、通信装置通信连接，所述位置调节装置，用于调节所述X射线机和数字成像板的位置，并将调节信号发送给所述中央控制器；所述中央控制器还与所述显示装置通信连接；

所述检测终端通过通信装置分别与所述X射线机、X射线机车、数字成像板和成像板车通信连接，所述通信装置用于向所述X射线机、X射线机车、数字成像板和成像板车发送所述中央控制器的控制信息，接收所述X射线机、X射线机车、数字成像板和成像板车反馈的信息；

所述中央控制器包括依次连接的图像采集模块和图像分析模块，所述图像采集模块用于获取所述数字成像板获取的二维投影、并进行图像采集，获得待测设备的X射线图像；所述图像分析模块用于分析所述图像采集模块采集的所述X射线图像，计算并确定所述待测设备的缺陷或故障。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括第一激光测距装置和第二激光测距装置，其中，

所述第一激光测距装置设置在所述X射线机上，用于测量所述X射线机与待测设备之间的间距；所述第二激光测距装置设置在所述数字成像板上，用于测量所述数字成像板与待测设备之间的间距；所述第一激光测距装置、第二激光测距装置分别与所述通信装置通信连接。

3.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述图像分析模块包括：

图像预处理子模块，用于将获得的所述X射线图像去噪处理，将去噪处理后的X射线图像灰度化处理，获得所述X射线图像所有像素点的灰度值；

图像区域划分子模块，用于将所述X射线图像所有像素点的灰度值生成四个方向的灰度共生矩阵，推导出各像素点的相关，并根据所述相关将所述X射线图像划分成若干区域，其中，每个所述区域所有像素点的灰度共生矩阵的相关相同；

图像轮廓提取子模块，用于提取每个区域的图像轮廓；

尺寸计算子模块，用于根据每个区域的图像轮廓，计算每个区域对应的待测设备的尺寸；

缺陷或故障确定子模块，用于将每个区域对应的待测设备的尺寸与预设X射线图像特征数据库中对应的区域实际尺寸对比，确定所述缺陷或故障。

4.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述显示装置包括：

检测状态显示子模块，用于显示X射线无损检测状态，所述X射线无损检测状态包括X射线图像采集中、X射线图像采集完成或X射线图像分析完成。

5.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述检测终端还包括按键输入模块，所述按键输入模块包括预热键、一键采集按键和一键停止按键，所述预热键、一键采集按键和一键停止按键分别与所述中央控制器电连接。

6.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述检测终端还包括语音提示模块，所述语音提示模块与所述中央控制器电连接，用于提示X射线无损检测状态。

7.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述检测终端还包括X射线辐射量设定模块，所述X射线辐射量设定模块与所述中央控制器电连接，用于设定X射线机发射的X射线的辐射量。

8.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述检测终端包括手机或Pad。

9.一种X射线无损检测方法，其特征在于，所述方法包括：

检测终端控制X射线机和数字成像板移动至待测设备的两侧，且所述X射线机、数字成像板、待测设备在同一条直线上；

控制X射线机发射X射线，所述数字成像板将获得的二维投影发送给所述检测终端；

所述检测终端进行X射线图像采集；

所述检测终端进行X射线图像分析，确定待测设备的缺陷或故障。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述检测终端进行X射线图像分析，确定待测设备的缺陷或故障，包括：

将获得的所述X射线图像去噪处理，将去噪处理后的X射线图像灰度化处理，获得所述X射线图像所有像素点的灰度值；

将所述X射线图像所有像素点的灰度值生成四个方向的灰度共生矩阵，推导出各像素点的相关，并根据所述相关将所述X射线图像划分成若干区域，其中，每个所述区域所有像素点的灰度共生矩阵的相关相同；

提取每个区域的图像轮廓；

根据每个区域的图像轮廓，计算每个区域对应的待测设备的尺寸；

将每个区域对应的待测设备的尺寸与预设X射线图像特征数据库中对应的区域实际尺寸对比，确定所述缺陷或故障。