[发明专利]一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置及方法

说明书

本发明属于测控技术领域，具体涉及一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置及方法。该装置包括第一测试通道和第二测试通道，第一测试通道和第二测试通道均包括上通道和下通道，四个通道均设置有内部切换继电器；第一测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x1连接，第二测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x2连接；被测标准电阻端接插件的两个接线端之间连接被测标准电阻。本发明可应用在多通道自动连续低阻测试的系统中，降低成本的同时实现较高的准确度，完全消除测试通道的切换继电器的导通电阻对测试准确度的影响。

技术领域

本发明属于测控技术领域，具体涉及一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置及方法。

背景技术

采用多通道电缆网测试仪对电缆网芯点间的阻值进行测试时，芯点间的阻值多为mΩ级，为了得到准确的阻值往往需要采用“四线测试”，每个测试通道需要占用两个芯点，对于同样规模的电缆网络，采用“四线测试”需要占用的通道芯点数是采用“两线测试”的一倍，其成本也增加一倍，因“两线测试”的采样点在系统内部，其测试的电阻值包含通道切换继电器导通电阻，内部引线电阻等，影响测试的准确度，如何消除内部通道切换电阻的影响，实现“两线测试”的准确度达到“四线测试”水平，得到准确的线缆阻值是目前迫切需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置及方法，以解决上述问题。

为达到上述目的，本发明所采取的技术方案为：

一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置，包括第一测试通道和第二测试通道，第一测试通道和第二测试通道均包括上通道和下通道，四个通道均设置有内部切换继电器；第一测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x1连接，第二测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x2连接；被测标准电阻端接插件的两个接线端之间连接被测标准电阻。

一种基于所述消除多通道切换电路影响的两线测试装置的两线测试方法如下：

(a)接通测试通道外部接线端接插件与被测标准电阻端接插件，测试通道外部接线端接插件的测试芯点x1连接到被测标准电阻端接插件的接线端y1；测试通道外部接线端接插件的测试芯点x2连接到被测标准电阻端接插件的接线端y2；

(b)接通第一测试通道的上通道和第二测试通道的下通道，设测试得到的电阻值为R_T12，其公式如下：

R_T12＝r1+Rx+r4 (1)

(c)接通第二测试通道的上通道和第一测试通道的下通道，设测试得到的电阻值为R_T21，其公式如下：

R_T21＝r3+Rx+r2 (2)

(d)接通第一测试通道的上通道和下通道，设测试得到的电阻值为R_T1，其公式如下：

R_T1＝r1+r2 (3)

(e)接通第二测试通道的上通道和下通道，设测试得到的电阻值为R_T2，其公式如下：

R_T2＝r3+r4 (4)

(f)由公式(1)、公式(2)、公式(3)和公式(4)可得到被测标准电阻值：