[发明专利]一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置及方法在审
| 申请号： | 201710223531.0 | 申请日： | 2017-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN108693405A | 公开（公告）日： | 2018-10-23 |
| 发明（设计）人： | 孙德冲;贾丰锴;张莉莉;蔡惠华;葛萌 | 申请（专利权）人： | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 吕岩甲 |
| 地址： | 100076 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试通道 继电器 接插件 上通道 下通道 多通道切换 外部接线端 标准电阻 测试装置 测试 电路 测试准确度 测控技术 导通电阻 自动连续 准确度 多通道 接线端 低阻 应用 | ||
1.一种消除多通道切换电路影响的两线测试装置，其特征在于：包括第一测试通道和第二测试通道，第一测试通道和第二测试通道均包括上通道和下通道，四个通道均设置有内部切换继电器；第一测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x1连接，第二测试通道的上通道和下通道上的内部切换继电器均与测试通道外部接线端接插件的测试芯点x2连接；被测标准电阻端接插件的两个接线端之间连接被测标准电阻。
2.一种基于权利要求1所述消除多通道切换电路影响的两线测试装置的两线测试方法，其特征在于：该方法如下：
(a)接通测试通道外部接线端接插件与被测标准电阻端接插件，测试通道外部接线端接插件的测试芯点x1连接到被测标准电阻端接插件的接线端y1；测试通道外部接线端接插件的测试芯点x2连接到被测标准电阻端接插件的接线端y2；
(b)接通第一测试通道的上通道和第二测试通道的下通道，设测试得到的电阻值为RT12，其公式如下：
RT12＝r1+Rx+r4 (1)
(c)接通第二测试通道的上通道和第一测试通道的下通道，设测试得到的电阻值为RT21，其公式如下：
RT21＝r3+Rx+r2 (2)
(d)接通第一测试通道的上通道和下通道，设测试得到的电阻值为RT1，其公式如下：
RT1＝r1+r2 (3)
(e)接通第二测试通道的上通道和下通道，设测试得到的电阻值为RT2，其公式如下：
RT2＝r3+r4 (4)
(f)由公式(1)、公式(2)、公式(3)和公式(4)可得到被测标准电阻值：
其中，第一测试通道上通道内部切换继电器的电阻值为r1，第一测试通道下通道内部切换继电器的电阻值为r2，第二测试通道上通道内部切换继电器的电阻值为r3，第二测试通道下通道内部切换继电器的电阻值为r4，被测标准电阻值为Rx。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院，未经北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710223531.0/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
