[发明专利]铝合金中铅和镉元素含量的X射线荧光测定方法

权利要求书

1.一种铝合金中铅和镉元素含量的X射线荧光测定方法，其特征在于本方法包括如下步骤：

步骤一、试样预处理，将标准试样和待测试样采用铣床或车床加工待测面至平整表面，期间保存内层车铣碎屑待用，将平整表面打磨至光滑镜面，其中，标准试样中铅和镉元素含量均在目标控制范围内；

步骤二、建立校准曲线，采用X射线荧光分析仪检测标准试样的光滑镜面，分别测定标准试样中铅和镉元素含量与对应的荧光强度，得到横坐标为含量、纵坐标为荧光强度的铅元素校准曲线和镉元素校准曲线；

步骤三、校准曲线准确度的校正，取车铣碎屑采用电感耦合等离子体原子发射光谱法进行化学法测定，得到车铣碎屑中铅和镉元素含量数据，通过该数据在校准曲线上的拟合度判断校准曲线的准确性，并对校准曲线进行校正和修正，使得铅元素校准曲线和镉元素校准曲线的相关系数分别达到0.999和0.991；

步骤四、取待测试样采用X射线荧光分析仪分别检测铅和镉元素对应的荧光强度，根据测得的荧光强度在校准曲线的横坐标上分别得到对应的铅和镉元素含量。

2.根据权利要求1所述的铝合金中铅和镉元素含量的X射线荧光测定方法，其特征在于：所述标准试样和待测试样的光滑镜面依次采用240#砂纸、600#砂纸打磨，然后采用抛光布配合磨砂膏研磨得到。

3.根据权利要求1或2所述的铝合金中铅和镉元素含量的X射线荧光测定方法，其特征在于：所述X射线荧光分析仪在对标准试样和待测试样检测时，设定X射线荧光分析仪的检测参数分别为：铅元素谱线Lβ₁、镉元素谱线Kβ₁、X光管电压50kV、X光管电流60mA、检测晶体LiF、准直器S2、探测器SC、照射时间10秒、PHA范围100～300，并且不采用滤光片。