[发明专利]一种用于CMOS传感器的测试系统

说明书

本发明涉及一种用于CMOS传感器的测试系统，主要解决现有技术中存在的测试功能少、测试芯片数量少的技术问题，本发明通过采用包括平行光灯箱；数量为N的无镜头CMOS传感器，无镜头CMOS传感器测试时与所述平行光位置对应；与无镜头CMOS传感器连接的测试板，测试板包括用于采集信号数据的图像传感器；无镜头CMOS传感器及测试板均固定于测试板固定板，所述测试板固定架固定连接于升降台；所述测试板通过USB2.0均与控制单元连接，所述控制单元还与升降台连接，所述控制单元通过USB电缆及串口与上位机连接的技术方案，较好的解决了该问题，可用于CMOS传感器性能测试中。

技术领域

本发明涉及传感器测试领域，特别涉及到一种用于CMOS传感器的测试系统。

背景技术

采用新工艺做的CMOS传感器一般需要对电路和像素性能进行评估，以便后续用该工艺进行批量生产。既然要对电路和像素性能进行评估测试，那么就需要进行数据采集，然后对数据进行换算得出想要的数据。评估电路和像素性能是一个很重要的环节，测试芯片数量比较多，可能几十颗甚至上百颗，且每颗芯片需要抓拍很多图片进行分析，工作量还是比较大的，每颗测试的条件要保持一致，测试环境需放置密封的光箱内，通过该控制系统对数据进行采集和运算。

现有的测试系统通常只能对CMOS传感器的电路和像素性能单一进行测试，并且只能测试一个CMOS传感器芯片。其存在测试功能少、测试数量少的技术问题。因此，提供一种测试功能齐全、测试芯片数量多、使用方便的测试系统就很有必要。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是现有技术中存在的测试功能少、测试芯片数量少的技术问题。提供一种新的用于CMOS传感器的测试系统，该测试系统具有测试功能齐全、能够一次进行多芯片测试的特点。

为解决上述技术问题，采用的技术方案如下：

一种用于CMOS传感器的测试系统，所述测试系统包括提供平行光的平行光灯箱；数量为N的无镜头CMOS传感器，所述无镜头CMOS传感器测试时与所述平行光位置对应；与所述无镜头CMOS传感器连接的测试板，所述测试板包括用于采集信号数据的图像传感器；所述无镜头CMOS传感器及测试板均固定于测试板固定板，所述测试板固定板固定连接于升降台；所述测试板通过USB2.0均与控制单元连接，所述控制单元还与升降台连接，所述控制单元通过USB电缆及串口与上位机连接；所述测试系统中上位机位于密封光箱外，测试系统其余部分放置于密封光箱内；所述上位机通过串口控制控制单元进行升降台位置、平行光灯箱及USB线缆通道选择；所述无镜头CMOS传感器数量与测试板数量、测试板固定板数量均相同；其中，N为正整数。

上述技术方案中，为优化，进一步地，所述控制单元包括MCU控制板及USB线路开关，所述MCU控制板用于控制升降台位置及平行光灯箱，所述USB线路开关用于选择USB线缆通道。

进一步地，所述平行光灯箱为DNP灯箱。

进一步地，所述USB2.0包括VBUS、USB_DP、USB_DP、GND四根数据线，用于对应CMOS传感器的D0～D7、HS、VS、像素、CLK、SDA、SCK、PWDN数据线。

进一步地，所述N＝3。

本发明还提供一种用于CMOS传感器的测试系统的使用方法，包括：

(1)将无镜头CMOS传感器装配在测试板上，测试板固定在固定架上，放置密封暗箱内；

(2)上位机通过串口发送指令给控制单元，打开平行光灯箱，调节升降台位置，将包括无镜头CMOS传感器的测试板依次对准DNP灯箱，控制单元控制相应USB线缆与上位机连通，接通测试板，完成后控制单元反馈指令到上位机，上位机通过控制单元初始化测试板上的无镜头CMOS传感器芯片参数，