[发明专利]一种用于CMOS传感器的测试系统

权利要求书

1.一种用于 CMOS 传感器的测试系统，其特征在于：所述测试系统包括密封暗箱，提供平行光的平行光灯箱；数量为 N 的无镜头 CMOS 传感器，所述无镜头CMOS 传感器测试时与所述平行光位置对应；与所述无镜头 CMOS 传感器连接的测试板，所述测试板包括用于采集信号数据的图像传感器；所述无镜头 CMOS 传感器及测试板均固定于测试板固定架，所述测试板固定架固定连接于升降台； 所述测试板通过 USB2.0 均与控制单元连接，所述控制单元还与升降台连接，所述控制单元通过 USB 电缆及串口与上位机连接；

所述测试系统中上位机位于密封光箱外，测试系统其余部分放置于密封光箱内；

所述上位机通过串口控制控制单元进行升降台位置、平行光灯箱及 USB 线缆通道选择；

所述无镜头 CMOS 传感器数量与测试板数量、测试板固定架数量均相同； 其中，N 为正整数；

所述控制单元包括 MCU 控制板及 USB 线路开关，所述 MCU 控制板用于控制升降台位置及平行光灯箱，所述 USB 线路开关用于选择 USB 线缆通道；

所述用于CMOS传感器的测试系统的测试方法，包括：

上位电机通过控制单元初始化测试板上的无镜头CMOS传感器芯片参数；无镜头CMOS传感器芯片参数包括数据输出格式、PGA增益、ADC范围、低8bit输出及曝光时间；

启动数据处理程序处理芯片数据，包括：

(A)设置路径，读取当前文件100张图片，求均值mean_illumination；

(B)根据全黑Dark下的5张图片，求均值mean_dark；

(C)根据公式Mean_output＝mean_illumination–mean_dark计算出Mean_output值；

(D)根据100张图片叠加得到均值图片，对所述均值图片求标准偏差得出FPN数据；

(E)对每个像素对应的100个值求标准方差，将所述标准方差平均后得到随机噪声值；

(F)保存所述FPN数据、随机噪声值，将所述FPN数据和所述随机噪声值折算成电压数据后，用于绘制光电曲线判定芯片电路和像素的性能。

2.根据权利要求 1 所述的用于 CMOS 传感器的测试系统，其特征在于：所述平行光灯箱为 DNP 灯箱。

3.根据权利要求 1 所述的用于 CMOS 传感器的测试系统，其特征在于：所述 N=3。