[发明专利]辐射抗扰度多信号源测量系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及信号检测技术应用领域，具体而言，涉及一种辐射抗扰度多信号源测量系统及方法。

背景技术

随着科学技术的日益发展，越来越多的带有电磁辐射的设备进入了人们的生活和科技生产的各个领域，可以说人们所处环境的任何地方都存在着人为的电磁辐射。在满足人们重要需求的同时，也使人们担心“电磁污染”对人体健康的损害以及不同电磁波之间的互相干扰。因此辐射抗扰度测试越来越受到重视。

其中，传统抗扰度测试方法具体如下：

1.测试场地：

电波暗室，具有合适尺寸，能维持对待测设备(Equipment Under Test，简称EUT)来说具有足够空间的均匀场域，一般为全电波暗室或地面上铺吸波材料的半电波暗室。

2.测试仪器：

信号发生器——能够覆盖标准要求频带，并以1kHz的正弦波进行调幅，调幅深度为80％。

功率放大器——放大信号(调制和未调制的)及提供天线输出所需的场强点评、放大器产生的谐波和失真点评应比载波电平低至少15dB。

发射天线——能够满足频率特性要求的双锥形、对数周期或其他线性极化天线系统。

场强仪——记录场强值的辅助设备，用于场均匀性校准。

功率计——记录功率电平的辅助设备。

3.测试要求：

⑴场均匀性校准

场均匀性校准目的是为确保待测设备周围的场充分均匀，以保证实验结果的有效性。过程参照GB17626.3文件中6.2部分——场的校准规定。

就是对EUT所处的一个1.5m×1.5m的一个正方形区域内的16个点的场强进行校准，即所谓的均匀域校准。如图1所示，均匀域底部与接地平板之间的距离为0.8m，这个距离正好是试验桌的高度，所以均匀域实际上就是试验桌桌面靠发射天线一侧的边沿上方1.5m×1.5m的区域。

在进行均匀域校准时，发射天线测量点到均匀域之间的距离与RS测试时的距离相同，即3m。另外，天线的顶点应该正对着均匀域的中心点，该中心点与均匀域上下边线及左右边线的距离均为0.75m。由此可推知，天线的高度为1.55m(0.75m+0.8m)。

将场强探头(有专门的支架支撑)依次放置在第1个至第16个校准点上，分别进行校准。在每个校准点，从低频点至高频点，按照标准中规定的频率步长完成所有频点的校准。均匀域校准有两种方法：恒定场强法和恒定功率法。

⑵测试

应用场均匀性校准的数据来产生试验场，将EUT置于使其某个面与校准的平面相重合的位置。用1kHz的正弦波对信号进行80％的幅度调制后，在预定的频率范围内进行扫描实验。每一个频率点上，幅度调制载波的扫描频率驻留时间应不短于EUT动作及相应所需的时间，且不得短于0.5s。对敏感频点则应个别考虑。

执行步骤如下：

a.将信号发生器输出的频率调至试验频率范围的下限(例如80MHz)。

b.通过校准数据计算出该频率对应达到标准场强的信号幅度，再经1kHz调制频率，80％的调制深度进行调幅设置，输出信号。等待响应时间，人工判断EUT是否合格，如不合格，记录当前频点至不合格点列表。

c.以当前频率的1％为最大增量来增加频率。

d.重复b和c，至下一频率超过实验频率范围的上限，最后在上限频率重复步骤b。

但是按照传统的测试方法，在不考虑人工干预和设备切换的前提下，完成辐射抗扰度的测试时间将超过7个小时。如何在遵照标准的前提下，快速完成越来越繁重的任务和减少冗长的测试时间，已成为测试人员最关心的问题。

按照现有技术中在测试频段80MHz-2GHz范围内，以1％的对数步进来进行测试，每个EUT要完成4个测试面测试，且每个面要针对发射天线的水平、垂直两个极化方式分别进行测试，几乎需要耗费几个小时甚至几天的时间。那么如何提高测试效率，就是现有技术中急需解决的关键问题。

针对上述由于现有技术中在对待测设备需花费长时间的测试，导致的测试效率低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种辐射抗扰度多信号源测量系统及方法，以至少解决由于现有技术中在对待测设备需花费长时间的测试，导致的测试效率低的技术问题。