[发明专利]辐射抗扰度多信号源测量系统及方法在审
申请号: | 201710181538.0 | 申请日: | 2017-03-23 |
公开(公告)号: | CN107102216A | 公开(公告)日: | 2017-08-29 |
发明(设计)人: | 张志华;吕文晶;于海生;闫冉 | 申请(专利权)人: | 北京中科国技信息系统有限公司 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 韩建伟,张永明 |
地址: | 100097 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐射 抗扰度多 信号源 测量 系统 方法 | ||
1.一种辐射抗扰度多信号源测量系统,其特征在于,包括:天线、待测设备、信号发生器、信号处理装置、信号检测仪器和外接设备,其中,
所述信号发生器,用于提供输入信号,其中,所述信号发生器包括:至少两个信号源;所述至少两个信号源,用于产生调频、调幅、调相或脉冲调制的调制信号;
所述信号处理装置,与所述信号发生器连接,用于对所述输入信号进行处理;
所述天线,与所述信号处理装置连接,用于发射处理后的所述输入信号;
所述信号检测仪器,分别与所述待测设备、所述信号发生器和所述信号处理装置连接,用于校准所述输入信号和所述待测设备的辐射抗扰度与场均匀性;
所述外接设备,分别与所述信号检测仪器和所述信号发生器连接,用于获取所述信号检测仪器的检测参数,以及设置所述信号发生器的所述输入信号的信号参数。
2.根据权利要求1所述的辐射抗扰度多信号源测量系统,其特征在于,
所述至少两个信号源,分别与所述信号处理装置、所述信号检测仪器和所述外接设备连接,用于依据所述外接设备的设置同时输出所述输入信号,或,依据所述外接设备的设置依据控制指令输出一个信号源的输入信号。
3.根据权利要求1所述的辐射抗扰度多信号源测量系统,其特征在于,所述信号处理装置包括:合路器、功率放大器和耦合器,其中,
所述合路器,与所述信号发生器连接,用于将输入的多频段的信号组合到在一起输出路到同一套系统;
所述功率放大器,与所述合路器连接,用于放大所述输入信号;
所述耦合器,与所述功率放大器连接,用于将所述输入信号进行隔离、分离和混合。
4.根据权利要求1所述的辐射抗扰度多信号源测量系统,其特征在于,所述信号检测仪器包括:场强仪和功率计,其中,
所述功率计,用于记录功率电平;
所述场强仪,用于校准与测试中的场均匀性。
5.一种辐射抗扰度多信号源测量方法,其特征在于,包括:
开启至少两个信号源;
在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准;
在检测结果为所述待测设备的辐射抗扰度处于异常的情况下,关闭至少一个信号源,保留一个信号源,并依据保留的所述信号源检测所述待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准,并记录所述待测设备的运行状态。
6.根据权利要求5所述的辐射抗扰度多信号源测量方法,其特征在于,所述在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准包括:
在所述预设时间内,判断所述至少两个信号源的输出信号为升序测量信号时的频率是否大于终止频率;
在判断结果为所述频率小于终止频率的情况下,调制所述至少两个信号源的所述输出信号,判断所述待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准;
在判断结果为所述频率大于终止频率的情况下,测量完成。
7.根据权利要求5所述的辐射抗扰度多信号源测量方法,其特征在于,所述在预设时间内检测待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准包括:
在所述预设时间内,判断所述至少两个信号源的输出信号为降序测量信号时的频率是否小于起始频率;
在判断结果为所述频率大于所述起始频率的情况下,调制所述至少两个信号源的所述输出信号,判断所述待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准;
在判断结果为所述频率小于所述起始频率的情况下,测量完成。
8.根据权利要求5所述的辐射抗扰度多信号源测量方法,其特征在于,所述关闭至少一个信号源,保留一个信号源,并依据保留的所述信号源检测所述待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准包括:
关闭所述至少一个信号源,保留一个信号源,并通过保留的所述信号源依据预设信号频率检测所述待测设备的辐射抗扰度是否为正常标准。
9.根据权利要求8所述的辐射抗扰度多信号源测量方法,其特征在于,所述记录所述待测设备的运行状态包括:
在所述待测设备异常的情况下,将所述待测设备的运行状态录入预设记录表;
调整所述预设信号频率,并通过开启所述至少两个信号源,在预设时间内检测待测设备是否正常。
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