[发明专利]一种电路板全过程测试覆盖率分析方法

说明书

本发明公开了一种电路板全过程测试覆盖率分析方法，包括以下步骤：将目标电路板的所有元器件的属性和加工属性进行归类，得到电路板全过程的评价属性；使用不同的测试方法对每种属性进行检测，得到不同测试方法对每种属性的检出度，进而得出全过程测试对每种属性的检出度以得到全过程测试覆盖率。本发明将传统的单一方式的测试覆盖率统计分析过程变为了生产过程中所有的检测过程，并基于不同检测方式的测试覆盖率评估方法转换为同一维度的评价方法，能够综合利用多种测试方法的测试结果，使得测试覆盖率的准确率大大提高，有效减少了重复计算以及漏算的情况。

技术领域

本发明软件测试技术领域，更具体地，涉及一种电路板全过程测试覆盖率分析方法。

背景技术

目前铁路机车产品的设计越来越复杂，产品功能也越来越多，传统的基于单一工序的测试覆盖率分析方法已经不能满足要求。电路板的功能越来越多，传统的单一测试方法已经不能满足要求，需要将多种测试方法综合应用方能满足要求，但是每种测试方法对测试覆盖率的分析和计算均不一样，因此在计算电路板测试覆盖率时存在重复计算或遗漏的情况。

发明内容

本发明为克服上述现有技术所述的至少一种缺陷，提供能有效避免重复计算或遗漏情况，提高测试覆盖率计算准确率的电路板全过程测试覆盖率分析方法。

提供一种电路板全过程测试覆盖率分析方法，包括以下步骤：将目标电路板的所有元器件的属性和加工属性进行归类，得到电路板全过程的评价属性；使用不同的测试方法对每种属性进行检测，得到不同测试方法对每种属性的检出度，进而得出全过程测试对每种属性的检出度以得到全过程测试覆盖率。

进一步地，具体步骤为：

S1.根据目标电路板实际情况，选择测试方法对电路板进行测试；

S2.导入由不同测试方法得到的单步测试覆盖率报告；

S3.制定转换规则，通过对所有元器件的属性和加工属性进行分类，得到评价属性；根据不同的测试方法调用转换规则；

S4.对不同评价属性设定检出度参数；对所述步骤S3得到的每种测试方法下的每个评价属性的检出度，调用检出度参数；

S5.产生全过程测试覆盖率测试报告。

本发明通过分析不同测试方法的测试覆盖率计算方式与全过程测试覆盖率计算方式，改变了传统的单一测试方法，通过设置评价属性将不同测试方法测试的测试覆盖率重新计算以得出全过程测试覆盖率。

进一步地，在步骤S2与步骤S3之间设有步骤：对由不同的测试方法得到的单步测试覆盖率报告进行检测，判断是否符合格式；若符合则进行下一步骤，否则，提示错误并返回到上一步骤。

进一步地，所述步骤S1中，所述测试方法包括飞针测试、ICT测试、边界扫描测试、自动线缆测试、功能测试报告、AOI测试、AXI测试。

进一步地，所述步骤S3中，所述转换规则为将不同测试方法的测试覆盖率转换到同一的评价维度。

进一步地，在所述转换规则中，将电路板全过程分为六个评价属性，分别为开路、短路、位置、极性、功能和性能。

进一步地，所述步骤S4中，分别将检出度参数赋值给全过程测试覆盖率评价属性的参数。

相较于现有技术，本发明的有益效果为：

本发明为了避免重复计算或遗漏情况的发生，采用了全过程测试覆盖率的分析方法，具体地，将电路板所有的元器件的属性和加工属性进行归类和分类，总结测试内容为开路、短路、位置、极性、功能和性能，共计6个评价属性；通过分析和统计历史数据，得出不同的测试方法对每种属性的检出度，从而得出全过程测试对每种属性的检出度。