[发明专利]一种电路板全过程测试覆盖率分析方法在审
| 申请号： | 201710174457.8 | 申请日： | 2017-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN108627755A | 公开（公告）日： | 2018-10-09 |
| 发明（设计）人： | 高峰;陈志漫;耶小方;谢明明;武松剑;张宏伟 | 申请（专利权）人： | 株洲中车时代电气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F11/36 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 任重;冯振宁 |
| 地址： | 412000*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 全过程测试 电路板 测试覆盖率 覆盖率分析 测试 检出 检测 目标电路板 单一方式 方法转换 生产过程 有效减少 重复计算 统计分析 传统的 准确率 归类 维度 元器件 覆盖率 评估 加工 | ||
1.一种电路板全过程测试覆盖率分析方法，其特征在于，包括以下步骤：将目标电路板的所有元器件的属性和加工属性进行归类，得到电路板全过程的评价属性；使用不同的测试方法对每种评价属性进行检测，得到不同测试方法对每种评价属性的检出度，进而得出全过程测试对每种评价属性的检出度以得到全过程测试覆盖率。
2.根据权利要求1所述的电路板全过程测试覆盖率分析方法，其特征在于，具体包括以下步骤：
S1.根据目标电路板实际情况，选择测试方法对电路板进行测试；
S2.导入由不同测试方法得到的单步测试覆盖率报告；
S3.制定转换规则，通过对所有元器件的属性和加工属性进行分类，得到评价属性；根据不同的测试方法调用转换规则；
S4.对不同评价属性设定检出度参数；对所述步骤S3得到的每种测试方法下的每个评价属性的检出度，调用检出度参数；
S5.产生全过程测试覆盖率测试报告。
3.根据权利要求2所述的电路板全过程测试覆盖率分析方法，其特征在于，在所述步骤S2与所述步骤S3之间设有步骤：对由不同的测试方法得到的单步测试覆盖率报告进行检测，判断是否符合格式；若符合则进行下一步骤，否则，提示错误并返回到上一步骤。
4.根据权利要求2所述的电路板全过程测试覆盖率分析方法，其特征在于，所述步骤S1中，所述测试方法包括飞针测试、ICT测试、边界扫描测试、自动线缆测试、功能测试报告、AOI测试、AXI测试。
5.根据权利要求2所述的电路板全过程测试覆盖率分析方法，其特征在于，所述步骤S3中，所述转换规则为将不同测试方法的测试覆盖率转换到同一的评价维度。
6.根据权利要求5所述的电路板全过程测试覆盖率分析方法，其特征在于，在所述转换规则中，将电路板全过程分为六个评价属性，分别为开路、短路、位置、极性、功能和性能。
7.根据权利要求5所述的电路板全过程测试覆盖率分析方法，其特征在于，所述步骤S4中，分别将检出度参数赋值给全过程测试覆盖率评价属性的参数。
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