[发明专利]车载中控系统干扰源寻找方法

说明书

本发明公开了一种车载中控系统干扰源寻找方法，包括步骤：S1、按照对车载中控系统的各模块的预设分组情况和各分组模块的优先等级，分别关闭各分组模块相对应的程控电源，对车载中控系统进行EMI测试；S2、将获得的所有EMI测试数据依次与车载中控系统正常工作时的EMI测试数据进行比对后，分析获得作为干扰源的分组。本发明通过将车载中控系统的模块进行分组后，逐个关闭各分组的模块，进行EMI测试，从而分析获得作为干扰源的分组模块，可以快速准确定位干扰源，测试效率高，测试成本低，可广泛应用于车载中控系统的测试行业中。

技术领域

本发明涉及汽车车载系统技术领域，特别是涉及一种车载中控系统干扰源寻找方法。

背景技术

名词解释：

EMI：全称Electromagnetic Interference，电磁干扰；

由于安全需要，汽车中控系统必须通过相应的电磁干扰测试即EMI测试，随着中控系统功能增多，集成度提高，以及EMI测试标准逐渐增严，EMI防护设计、整改难度也变大。如能快速定位到干扰源，EMI测试整改就会顺利很多。目前EMI测试寻找干扰源的方法：中控系统在半波暗室中进行EMI干扰测试，当测试数据显示有干扰点，则需将被测机器从半波暗室中取出来，拆开后用频谱仪配上近场探头扫描寻找干扰源。这种方式有以下三个缺点：一、由于中控系统集成度高，难以确认干扰源是机器内相邻的两个或多个模块中的哪一个或是哪几个；二、拆机费时费力，如果干扰源定位不准可能还要二次甚至多次拆机，测试效率低，而EMI测试是按小时计费，测试成本变高；三、半波暗室外还需要有一套频谱仪及探头、被测机电源等，增加测试设备成本。总的来说，目前针对车载中控系统的干扰源查找方案，操作复杂度高，测试效率低且测试成本较高。

发明内容

为了解决上述的技术问题，本发明的目的是提供车载中控系统干扰源寻找方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

车载中控系统干扰源寻找方法，包括步骤：

S1、按照对车载中控系统的各模块的预设分组情况和各分组模块的优先等级，分别关闭各分组模块相对应的程控电源，对车载中控系统进行EMI测试；

S2、将获得的所有EMI测试数据依次与车载中控系统正常工作时的EMI测试数据进行比对后，分析获得作为干扰源的分组。

进一步，当所述预设分组情况为每个分组不少于两个模块时，所述步骤S2之后还包括以下步骤：

S3、按照所获得分组的各模块的优先等级，分别关闭各模块相对应的程控电源后，对车载中控系统进行EMI测试，再将获得的所有EMI测试数据依次与车载中控系统正常工作时的EMI测试数据进行比对后，获得作为干扰源的模块。

进一步，所述步骤S3之后还包括以下步骤：

S4、对所获得的作为干扰源的模块，更新该模块在其对应分组中的优先等级，并更新该模块所在分组的优先等级。

进一步，还包括以下步骤：

实时检测用户通过触控屏输入的操作指令，判断是否检测到进行干扰源查找的操作指令；

响应于接收到的进行干扰源查找的操作指令，显示可供选择的测试模式，进而响应于用户的操作数据，获得对应的测试模式；

从预设测试规则数据库中匹配获得与该测试模式对应的对车载中控系统的各模块的预设分组情况和优先等级。

进一步，所述步骤S1，其具体为：