[发明专利]具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法

说明书

本发明公开了一种具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法，包括：在待测设备上确定待测点；根据测试设备设定的各测试点，移动待测设备，直至所述待测点依顺序与各测试点重合；分别判断各测试点对应的参数是否均满足其对应的预设条件；若是，则确定所述待测点为基准点；若否，则确定新的待测点；继续进行所述根据测试设备设定的各测试点，移动待测设备，直至所述待测点依顺序与各测试点重合的步骤。本发明可正确地确定出基准点，避免原来可通过认证的NFC天线由于未移动到最佳相对位置而导致认证不成功，从而提高认证准确率。特别，基准点的选取范围和移动的方向是按照待测NFC天线穿过测试天线线圈的磁通量绝对值来进行判断的。

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法。

背景技术

随着现阶段移动设备近场通信功能的发展，NFC功能将被配置在更多的手持设备中，进而促使对NFC天线设计的研究得到越来越得的重视。传统的NFC天线在手机的应用中，一般选择将FPC线圈(该线圈即NFC天线辐射体，可为方形或圆形等)，放置在手机的金属板(PCB板或电池)的上方，同时为了减弱金属板对NFC天线的负面影响，需要在FPC线圈和金属板中间加上一块铁氧体。上述的NFC天线设计方案仅适合于手持设备的后盖为非金属材质的情况。对于带有金属后壳的手机的情况，为了克服金属后壳对NFC天线的屏蔽的负面影响，一般采取在金属后壳上开一个孔并把所开的孔通过一个缝隙与金属后壳的边缘相导通，同时在用一个FPC线圈围绕在所开孔的周围。此时FPC线圈可以与所开缝隙相交(如公开号为CN102405556B的专利文件)，也可以不与所开缝隙相交(如公开号为CN105024162A的专利文件)。上述的三种NFC天线设计方案有一个共同的特点：NFC天线都只有一个模式。

此外，带有NFC功能的手机在上市前一般需要通过如下的认证：NFC EMVCo和/或NFC Forum。在做这方面的认证时，手机中的NFC天线是要通过耦合的方式与认证系统中的测试天线线圈进行信息的交互。信息交互的成功与否取决于两个线圈之间的耦合强度或一个线圈穿过另一个线圈的磁通量绝对值的大小。由于电与磁之间是可以相互转换的，所以信息交互的成功与否还可以用两个线圈之间产生的电压或电流来描述，在实际的认证系统中有些项目是通过在被测天线上产生的电压值、电流值或者是与其相对应的波形等参数来判断的。认证系统会通过测量天线提取被测手机的NFC天线的性能来评定被测手机中的NFC天线是否能满足认证标准的要求。只有在被测手机中的NFC天线能通过认证系统规范中的所有测试项的要求时，我们才可以说该被测手机通过了上述认证。特别，为了能够通过上述认证，被测NFC天线和测试系统中的测试天线线圈的相对空间位置要满足一定的要求，或者说被测NFC天线通过测量天线的磁通量绝对值要达到所需阈值。由于上述NFC天线只具有一个天线模式，所以被测NFC天线和测试天线之间的相对空间位置很容易被找到，一般通常是把NFC天线线圈的中心位置选为NFC天线的基准点位置即可。这里需要指出的是在实际的测试系统中被测天线是否能通过认证一般是通过两个线圈之间产生的电压、电流或者与其相对应的波形等参数是否达到所需阈值来判断的，而且在不同的测试点所需要的阈值是不同的，但是为了能更清晰和有效地阐述我们的问题(也即如何快速和有效地选取最佳基准点)，我们将用两个线圈之间通过的磁通量的大小来作为选取基准点的依据。

然而，近期提出的一种适用于全金属后壳的NFC天线方案，特别在这种方案中需要在金属后壳上开两个孔，然后用一个缝隙(注：缝隙的宽度可以较窄如1mm左右，也可以和孔的大小类似或相同)把两个孔相互导通或连接(这个方案可以简称为“两孔一缝隙”方案)，从而避免了公开号为CN102405556B的专利文件和公开号为CN105024162A的专利文件中的缝隙一定要开到金属边缘的缺点。在“两孔一缝隙”的方案中，NFC线圈可以采取只环绕一个孔的方式，如公开号为CN104979625A和CN204857966的专利文件所述，简称为O字形NFC天线；也可以采用同时环绕两个孔的方式，如公开号为CN105006654A的专利文件所述，简称为8字形NFC天线。但是无论是O字形还是8字形的NFC天线，这种“两孔一缝隙”的NFC天线都一定具有两个天线模式，而且这两个模式的磁场方向相反或位相相差180度。