[发明专利]具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法

权利要求书

1.一种具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法，其特征在于，包括：

在待测设备上确定待测点；

根据测试设备设定的各测试点，移动待测设备，直至所述待测点依顺序与各测试点重合；

分别判断各测试点对应的参数是否均满足其对应的预设条件；

若是，则确定所述待测点为基准点；

若否，则确定新的待测点；

继续进行所述根据测试设备设定的各测试点，移动待测设备，直至所述待测点依顺序与各测试点重合的步骤；

所述待测设备上设有两个开孔和一个缝隙，所述“在待测设备上确定待测点”具体为：

在待测设备上确定磁场零点；

在待测设备上的缝隙及其延伸线上确定第一点和第二点，所述第一点到磁场零点的距离M与所述第二点到磁场零点的距离N满足下述条件：M+2m60mm，N-2n10mm，其中，m为与所述第一点距离较远的开孔的中心点到磁场零点的距离，n为与所述第一点距离较近的开孔的中心点到磁场零点的距离；

在所述缝隙及其延伸线上且在所述第一点和第二点之间确定待测点。

2.根据权利要求1所述的具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法，其特征在于，所述测试设备还包括参考天线，将参考天线的中心点与所述待测点重合，以确定参考天线的位置。

3.根据权利要求1所述的具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法，其特征在于，移动待测设备时，将待测设备与测试天线线圈平行且待测设备上缝隙的长度方向与测试设备中预设的三维直角坐标系中的X轴方向或Y轴方向平行设置。

4.根据权利要求1所述的具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法，其特征在于，所述“待测点依顺序与各测试点重合”具体为：先将待测点与远离测试天线线圈的一个或两个测试平面上的测试点重合，判断所述测试点对应的参数是否均满足其对应的预设条件，若是，则继续将待测点与其他测试平面的测试点重合。

5.根据权利要求4所述的具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法，其特征在于，若所述测试点中一测试点对应的参数不满足其对应的预设条件，则以所述一测试点所在的测试平面上半径为零的圆上的点为基点，根据所述基点到所述一测试点的方向，移动待测点，得到新的待测点。

6.根据权利要求4所述的具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法，其特征在于，若其他测试平面上的测试点中存在不满足对应的预设条件的测试点，则沿所述待测点的四周方向，确定新的待测点。

7.根据权利要求4所述的具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法，其特征在于，所述远离测试天线线圈的一个或两个测试平面为Z＝30mm和/或Z＝40mm的测试平面。

8.根据权利要求1所述的具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法，其特征在于，当待测点与测试点重合时，获取测试点对应的参数，所述参数为电压、电流或波形曲线。

9.根据权利要求1-8任一项所述的具有双天线模式的NFC天线的认证测试方法，其特征在于，所述待测设备的金属后壳上设有两个开孔以及连接所述两个开孔的缝隙，NFC天线以O字形围绕一个开孔或以8字形围绕两个开孔。