[发明专利]一种选择测试指令的方法及处理设备

说明书

本申请公开了一种选择测试指令的方法及处理设备，用以解决现有技术中由于筛选的多个测试片段离散导致仿真器测试所述测试片段时耗费的时间较长的问题。该方法包括：处理设备将待测试指令拆分为多个片段，并确定每个片段中包含每种特征指令的数目，以及确定每个片段包含每种特征指令的平均值；并根据每个片段包含每种特征指令的数目和每个片段包含每种特征指令的平均值，在所述M个片段中选择N个片段作为测试指令，其中，所述N个片段中包含至少两个连续的片段。这样可以保证后续通过所述N个片段的性能指标确定的所述待测试指令的性能指标的准确度，降低了仿真器加载程序的次数，提高了仿真器的测试效率。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，尤其涉及一种选择测试指令的方法及处理设备。

背景技术

在研发人员进行大型的程序的设计和开发过程中，经常需要将设计的程序通过仿真器运行进行测试，然后收集该程序的性能指标。例如，在设计处理器体系架构时，研发人员对设计的处理器体系架构的程序进行测试，收集每时钟周期运行指令数(InstructionPer Cycle，IPC)、各级缓存命中率、能耗。

然而，由于程序的设计过程中，需要在仿真器上进行多次测试。且众所周知，运行相同的程序时，仿真器需要的运行时间比硬件平台需要的运行时间要长的多。因此这种反复的测试运行，仿真器有可能需要耗费数周或数月甚至更长的时间才能完成，严重影响了程序开发进程和效率。

研究表明，程序在运行过程中，各项性能指标均可以呈现出明显的阶段性特征，因此，在尽量保证最终得到的整个程序的性能指标的准确度的前提下，研发人员从精简测试程序的角度出发，通过以下方法得到整个程序的性能指标：

1)、处理器获得待测试程序的指令流，并确定所述指令流中包含的基本块(BasicBlock，BB)的种类；

2)、所述处理器将指令流切分成多个片段(Interval)，并确定每个片段中包含每种BB的数目，得到每个片段对应的基本块向量(Basic Block Vector，BBV)；

3)、所述处理器将得到的每个片段的BBV进行K均值(K-Means)聚类处理，将得到的BBV分为多类，然后筛选出每类中最接近该类中心的一个BBV，最终确定筛选出的多个BBV对应的测试片段；

4)、仿真器依次测试确定的多个测试片段，得到每个测试片段的性能指标；

5)、所述处理器确定每类BBV对应的片段在所述整个程序中的比重，即确定每个测试片段的性能指标的权重，然后根据确定的每个测试片段的性能指标的权重，计算每个测试片段的性能指标的加权和，从而得到所述整个程序的性能指标。

在上述方法中，由于所述处理器采用K-Means聚类方法筛选得到测试片段，因此得到的测试片段是离散的，即所述仿真器在测试所述多个测试片段时，启动次数与所述测试片段的个数相同；另外，由于仿真器在每次启动过程中将测试片段加载(Loading)到内存耗费的时间较长，而仿真器运行每个测试片段耗费的时间较少，综上所述，所述仿真器测试所述多个测试片段耗费的时间依然较长。

发明内容

本申请提供一种选择测试指令的方法及处理设备，用以解决现有技术中由于筛选的多个测试片段离散导致仿真器测试所述测试片段时耗费的时间较长的问题。

第一方面，本申请提供了一种选择测试指令的方法，该方法包括以下步骤：

处理设备将待测试指令分为M个片段后，确定所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的数目，进而确定所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的平均值；最终所述处理设备根据所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的数目，和所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的平均值，在所述M个片段中选择包含至少两个连续的片段N个片段作为测试指令，其中，M为大于1的整数，N为大于1且小于M的整数。