[发明专利]一种选择测试指令的方法及处理设备

权利要求书

1.一种选择测试指令的方法，其特征在于，所述方法包括：

处理设备将待测试指令分为M个片段，其中，M为大于1的整数；

所述处理设备确定所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的数目；

所述处理设备确定所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的平均值；

所述处理设备根据所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的数目和所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的平均值，在所述M个片段中选择N个片段作为测试指令，所述N个片段包含至少两个连续的片段，其中，N为大于1且小于M的整数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述处理设备根据所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的数目和所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的平均值，在所述M个片段中选择所述N个片段作为所述测试指令，包括：

所述处理设备在所述M个片段中选择运行时间之和小于预设的第一时间阈值，且满足第一条件的所述N个片段作为所述测试指令；

所述第一条件包括：所述N个片段包含至少两个连续片段，且所述N个片段中所有片段的特征向量的加权和与基本向量之间差值小于预设第一阈值，其中，每个片段的特征向量为所述每个片段包含的每种特征指令的数目组成的向量，所述基本向量为所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的平均值组成的向量。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述处理设备在所述M个片段中选择运行时间小于所述第一时间阈值，且满足所述第一条件的所述N个片段作为所述测试指令，包括：

步骤a：所述处理设备初始化残差向量为所述基本向量，并初始化待选子空间为所有X-子空间，其中，所述X-子空间为所述M个片段中任意连续的X个片段的特征向量组成的空间，其中X为大于1小于M的整数；

步骤b：所述处理设备在待选子空间中，选择与所述残差向量夹角最小的子空间，确定所述残差向量在选择出的子空间中的投影向量，并将所述残差向量与所述投影向量的差作为新的残差向量，将待选子空间去除选择的子空间后的所有子空间作为新的待选子空间；

步骤c：如果残差向量的大小小于所述第一阈值或选择的所有子空间包含的特征向量对应的片段的运行时间之和大于预设的第二时间阈值，所述处理设备将选择的所有子空间包含的特征向量对应的N个片段作为所述测试指令；如果残差向量的大小不小于所述第一阈值且选择的所有子空间包含的特征向量对应的片段的运行时间之和不大于所述第二时间阈值，所述处理设备返回执行步骤b；其中，所述第二时间阈值小于所述第一时间阈值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述处理设备根据所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的数目和所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的平均值，在所述M个片段中选择所述N个片段作为所述测试指令，包括：

所述处理设备在所述M个片段中，确定S个片段组，其中，S为大于1且小于M的整数，所述S个片段组中每个片段组包含至少两个连续的片段，所述M个片段中一个片段包含于所述S个片段组中的一个片段组中；

所述处理设备在所述S个片段组中，选择目标向量与基本向量之间差值小于预设第二阈值的至少一个片段组，并将所述至少一个片段组中包含的所述N个片段作为所述测试指令；其中，所述S个片段组中任一个片段组的目标向量为所述片段组中每个片段包含的每种特征指令的平均值组成的向量，所述基本向量为所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的平均值组成的向量。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述特征指令为所述M个片段中包含的基本块。

6.一种处理设备，其特征在于，包括：

确定单元，用于将待测试指令分为M个片段，其中，M为大于1的整数；并

确定所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的数目；以及

确定所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的平均值；

处理单元，用于根据所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的数目和所述M个片段中每个片段包含的每种特征指令的平均值，在所述M个片段中选择N个片段作为测试指令，所述N个片段包含至少两个连续的片段，其中N为大于1且小于M的整数。