[发明专利]基于指定位置的Mura缺陷修复方法及装置

说明书

本发明公开了一种基于指定位置的Mura缺陷修复方法及装置，用于对平面显示模组的Mura缺陷进行修复，该方法包括以下步骤：将图像输入信号解码成帧图像的像素灰度数据，根据DeMura查找表和DeMura控制数据在该帧图像的Mura指定区域上进行插值计算得到该帧图像的Mura指定区域的补偿数据，并将该补偿数据叠加到该帧图像中对应的像素灰度数据上，得到补偿后的帧图像信号。本发明可以对平面显示模组具体的Mura缺陷区域、像素点进行定点修复，在不增加硬件成本的情况下提升Mura缺陷修复精度。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，更具体地，涉及到一种基于指定位置的Mura缺陷修复方法及装置，用于对平面显示模组的Mura缺陷进行修复。

背景技术

平面显示器具有高分辨率、高亮度以及无几何变形等优点，同时由于其体积小、重量轻和功耗低，因而被广泛的应用在人们日常使用的消费电子产品中，例如电视、电脑、手机、平板等。平面显示模组是平面显示器的主体组成部分，其制造工艺复杂，需要近百道工序，因此在制造过程中难免会出现各种显示缺陷，而这些显示缺陷较为常见的是Mura(色斑)缺陷。Mura缺陷是在同一光源且底色相同的画面下，因视觉感受到的不同颜色或者亮度的差异，从而给人们带来视觉上的不适，严重影响着平面显示器的品质。

Mura修复是通过改变像素的灰度值来实现亮度均匀性的改善，对于显示亮度比较高的像素施加较低的灰度值，对于显示亮度比较低的像素，施加较高的灰度值，使得灰度补偿后各像素的亮度接近一致，实现Mura缺陷的改善。

目前的Mura修复方法是基于全局修复，按照固定的BlockSize(区域范围，例如4*4、8*8等)做数据压缩，对于单个补偿画面，每个BlockSize区域内只需要一个补偿数据值，例如3840*2160的模组，当BlockSize为8*8时，FLASH只存储481*271个补偿数据，BlockSize区域内其它像素点的补偿数据是通过插值算法计算出来。这种Mura修复方法的优势是效率高、节省成本，但由于线性插值算法计算Mura补偿数据的本质是基于待修复mura附近像素点的亮度值，对待修复mura的亮度值做平滑处理，存在以下不足：

1)如果Mura缺陷锐度较大，即BlockSize区域内Mura缺陷和非缺陷区域亮度变化明显时，平滑的补偿方式不能很好的抹平缺陷边缘区域的差异，Mura修复效果不理想；

2)如果将BlcokSize的精度提高，即缩小BlcokSize的区域范围，则可以解决上述问题，但屏端的Flash容量和Tcon端的数据缓存器(SRAM)容量会大幅增大。例如BlcokSize为1*1的补偿数据量是BlcokSize为8*8的补偿数据量大小的64倍，这样极大增加了硬件成本。

发明内容

针对上述现有技术的不足，本发明公开了一种基于指定位置的Mura缺陷修复方法及装置，针对平面显示模组不同类型、不同大小的多个Mura缺陷区，可以对平面显示模组具体的Mura缺陷区域、像素点进行定点修复，在不增加硬件成本的情况下提升Mura缺陷修复精度。

为解决上述技术问题，本发明提供一种基于指定位置的Mura缺陷修复方法，用于对平面显示模组的Mura缺陷进行修复，该方法包括以下步骤：

将图像输入信号解码成帧图像的像素灰度数据，根据DeMura查找表和DeMura控制数据在该帧图像的Mura指定区域上进行插值计算得到该帧图像的Mura指定区域的补偿数据，并将该补偿数据叠加到该帧图像中对应的像素灰度数据上，得到补偿后的帧图像信号。

进一步地，上述技术方案中该DeMura查找表包括上限灰阶值、下限灰阶值；该DeMura控制数据包括Mura指定区域数量及各Mura指定区域的BlockSize类型、起始点横坐标、起始点纵坐标、横向Block个数、纵向Block个数。