[发明专利]基于指定位置的Mura缺陷修复方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710151712.7 申请日: 2017-03-15
公开(公告)号: CN106898286B 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 郑增强;秦立;刘钊 申请(专利权)人: 武汉精测电子集团股份有限公司
主分类号: G09G3/20 分类号: G09G3/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 430070 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 基于 指定 位置 mura 缺陷 修复 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种基于指定区域的Mura缺陷修复方法,用于对平面显示模组的Mura缺陷进行修复,其特征在于,该方法包括以下步骤:

将图像输入信号解码成帧图像的像素灰度数据,根据DeMura查找表和DeMura控制数据在该帧图像的Mura指定区域上进行插值计算得到该帧图像的Mura指定区域的补偿数据,并将该补偿数据叠加到该帧图像中对应的像素灰度数据上,得到补偿后的帧图像信号;

该DeMura控制数据包括Mura指定区域数量及各Mura指定区域的BlockSize类型;不同的BlockSize类型用于补偿不同类型的缺陷。

2.根据权利要求1所述的Mura缺陷修复方法,其特征在于,该DeMura控制数据还包括上限灰阶值、下限灰阶值,以及各Mura指定区域的起始点横坐标、起始点纵坐标、横向Block个数、纵向Block个数。

3.根据权利要求2所述的Mura缺陷修复方法,其特征在于,该DeMura控制数据还包括有多个补偿灰阶节点,该DeMura查找表中包括有与该多个补偿灰阶节点一一对应的多个节点查找表;

若该Mura指定区域的像素点Px的灰度值处在任一个所述补偿灰阶节点上,则根据该任一个所述补偿灰阶节点对应的节点查找表计算得到与该像素点Px同行或同列相邻位置的像素点M、N的补偿数据,并通过下列公式得到该像素点Px在当前灰阶的补偿数据:

P=((XN-XPx)*M+(XPx-XM)*N)/(XN-XM)

其中,像素点M、N与像素点Px同行,XPx表示像素点Px的横坐标,P表示像素点Px的补偿数据;XM表示像素点M的横坐标,M表示像素点M的补偿数据;XN表示像素点N的横坐标,N表示像素点N的补偿数据;

或者,

P=((YN-YPx)*M+(YPx-YM)*N)/(YN-YM)

其中,像素点M、N与像素点Px同列,YPx表示像素点Px的纵坐标,P表示像素点Px的补偿数据;YM表示像素点M的纵坐标,M表示像素点M的补偿数据;YN表示像素点N的纵坐标,N表示像素点N的补偿数据。

4.根据权利要求2所述的Mura缺陷修复方法,其特征在于,该DeMura控制数据还包括有多个补偿灰阶节点;

若该Mura指定区域的像素点Py的灰度值处在相邻的两个所述补偿灰阶节点Plane1、Plane2之间,则分别获得该像素点Py的灰度值处在Plane1、Plane2时的补偿数据,并通过下列公式得到该像素点Py在当前灰阶T时的补偿数据:

P=((Plane2-T)*S+(T-Plane1)*R)/(Plane2-Plane1)

其中,P表示像素点Py处在当前灰阶T时的补偿数据,R表示像素点Py处在Plane2时的补偿数据,S表示像素点Py处在Plane1时的补偿数据。

5.根据权利要求3或4所述的Mura缺陷修复方法,其特征在于,该各Mura指定区域共用该上限灰阶值、该下限灰阶值及该多个补偿灰阶节点。

6.根据权利要求1所述的Mura缺陷修复方法,其特征在于,若该Mura指定区域为单个像素点,则该单个像素点的补偿数据从该DeMura查找表中获取。

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