[发明专利]一种提高向列相液晶光调制器件衍射效率的方法有效

专利信息
申请号: 201710140201.5 申请日: 2017-03-10
公开(公告)号: CN106896546B 公开(公告)日: 2019-12-06
发明(设计)人: 孙长俐;陆建钢;张彬;刘诗雨;查升毫 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G02F1/133 分类号: G02F1/133
代理公司: 31220 上海旭诚知识产权代理有限公司 代理人: 郑立<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 液晶 调制 器件 衍射 效率 方法
【权利要求书】:

1.一种提高向列相液晶光调制器件衍射效率的方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤一、将向列相液晶材料灌入液晶空间光调制器件中,以实现6π的相位深度;

步骤二、搭建相位深度测量系统,进行相位深度测量,电场加到公共电极和像素电极层两端,记录下相位深度-灰度曲线;

步骤三、搭建衍射效率测量系统,进行光束偏转衍射效率测量;

步骤四、调制光调制器件,对所述光调制器件加载调制灰度图,依据相位深度-灰度曲线对其进行调制,形成理想折射率形貌曲线。

2.如权利要求1所述的一种提高向列相液晶光调制器件衍射效率的方法,其特征在于,所述向列相液晶材料被设置为大折射率、大介电常数的液晶材料,所述液晶材料在1550nm下具有取值为0.25的双折射率、介电常数取值为10。

3.如权利要求2所述的一种提高向列相液晶光调制器件衍射效率的方法,其特征在于,所述液晶空间光调制器件的调制电压被设置为0.5V-5.5V。

4.如权利要求1所述的一种提高向列相液晶光调制器件衍射效率的方法,其特征在于,所述相位深度测量系统包括可调激光器、分光棱镜、反射镜、光功率计和光调制器,光束从所述可调激光器中发出,进入所述分光棱镜进行分光,直接到达相位调制器表面,被所述相位调制器表面发射的光经过所述分光棱镜达到所述光功率计。

5.如权利要求4所述的一种提高向列相液晶光调制器件衍射效率的方法,其特征在于,所述可调激光器被设置为近红外波段可调激光器,波长范围被设置为1525nm-1565nm。

6.如权利要求4所述的一种提高向列相液晶光调制器件衍射效率的方法,其特征在于,所述分光棱镜可以对近红外波段光进行分光,分为45°反射和垂直入射光束。

7.如权利要求4所述的一种提高向列相液晶光调制器件衍射效率的方法,其特征在于,所述光功率计被设置为近红外波段光功率计、激光光功率计中的一种。

8.如权利要求4所述的一种提高向列相液晶光调制器件衍射效率的方法,其特征在于,所述光调制器被设置为硅基液晶空间光调制器,可对液晶进行加电调制。

9.如权利要求1所述的一种提高向列相液晶光调制器件衍射效率的方法,其特征在于,所述光束偏转衍射效率测量的计算方法被设置为光束偏转后光束的功率值与光束未偏转前的功率值的比值。

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