[发明专利]待测样品处理方法、待测样品处理芯片及待测样品处理装置

说明书

【技术领域】

有使用待测样品处理芯片混合多个成分的技术(例如，参照美国专利发明第6517234号说明书)。

【背景技术】

上述美国专利发明第6517234号说明书公开了向待测样品处理芯片的送液通道注入多个成分，在送液通道内混合多个成分的技术。多个成分由在被称为送液通道的流路内搬送的过程中混合。

使用待测样品处理芯片混合多个成分的技术，例如，被用于为了稀释处理对象的成分而混合对象成分和稀释液。近年，要求以每1分子或每1个检测待测样品中的对象成分的技术(以下称为“数字检测”)。对象成分是例如，核酸、蛋白质、细胞等。在数字检测中，例如，使对象成分以每1分子或每1个包含在1个液滴内。这由于在由每个液滴构成的单位区域内各配置1分子或1个对象成分，被称为将对象成分以每1分子或每1个“隔区化”。为了将对象成分以每1分子或每1个隔区化，要求将对象成分以高的稀释倍率稀释。

【发明内容】

【发明要解决的技术课题】

在上述美国发明专利第6517234号说明书中，由于一直是将多个成分在流路内一边搬送一边混合，因此，为了将多个成分充分均匀地混合，流路的结构、混合的成分或液体的搬送控制变得复杂。因此，为了进行用于使用待测样品处理芯片执行数字检测的处理，期望不使流路结构、对象成分及稀释液的搬送控制复杂化而混合对象成分及稀释液。

【解决课题的技术方案】

此发明的第1方面的待测样品处理方法是用于使用有贮留部及液滴形成流路的待测样品处理芯片处理待测样品中的对象成分的待测样品处理方法，其中将对象成分和用于在液滴中以每1分子或每1个包含对象成分的指定量的稀释液的混合液贮留到贮留部中，对贮留部内的混合液进行加热，使贮留部内发生热对流而混合对象成分和稀释液，在液滴形成流路中，在分散介质中形成含被稀释的对象成分和与对象成分反应的试剂的液滴。

此发明的第2方面的待测样品处理芯片是设置于待测样品处理装置，用于处理由待测样品处理装置供给的待测样品中的对象成分的待测样品处理芯片，其具备：稀释流路，该稀释流路具有用于贮留对象成分和用于在液滴中以每1分子或每1个包含对象成分的指定量的稀释液的混合液的贮留部，通过由配置于待测样品处理装置的加热部发生的热而使贮留部内发生热对流，用于混合对象成分和稀释液；及液滴形成流路，该液滴形成流路用于在分散介质中形成含有在稀释流路中被稀释的对象成分和与对象成分反应的试剂的液滴。

此发明的第3方面的待测样品处理装置是用于使用上述第2方面的待测样品处理芯片处理待测样品中的对象成分的待测样品处理装置，其具备：设置有待测样品处理芯片的设置部；用于向待测样品处理芯片供给含对象成分的液体和用于稀释对象成分的稀释液而移送的送液部；用于对供给于待测样品处理芯片内的贮留部的对象成分和稀释液的混合液进行加热而使贮留部内发生热对流的加热部。

【发明效果】

在进行用于使用待测样品处理芯片执行数字检测的处理时，也可不使流路结构、对象成分及稀释液的搬送控制复杂化而混合对象成分及稀释液。

【附图说明】

【图1】是用于说明待测样品处理芯片的概要的图。

【图2】是用于说明待测样品处理装置的概要的图。

【图3】是显示待测样品处理芯片的构成例的立体图。

【图4】是显示待测样品处理芯片的基板的构成例的平面图。

【图5】是显示流体模块的构成例的平面图。

【图6】是显示流体模块向基板的配置例的模式平面图。

【图7】是显示流体模块向基板的配置例的模式的纵截面图。

【图8】是显示待测样品处理芯片的第1变形例的纵截面图。

【图9】是显示待测样品处理芯片的第2变形例的纵截面图。

【图10】是显示待测样品处理装置的构成例的框图。

【图11】是显示阀的构成例的截面图。

【图12】是显示液体储液池的构成例的纵截面图。

【图13】是显示液体储液池用的盖的第1构成例的纵截面图。

【图14】是显示液体储液池用的盖的第2构成例的纵截面图。

【图15】是显示设置部的盖的第1构成例的纵截面图。

【图16】是显示设置部的盖的第2构成例的纵截面图。

【图17】是显示连接器的第1构成例的纵截面图。

【图18】是显示连接器的第2构成例的纵截面图。

【图19】是显示连接器的第3构成例的模式图。