[发明专利]一种天线测试基板、耦合测试系统以及耦合测试方法有效
申请号: | 201710128378.3 | 申请日: | 2017-03-06 |
公开(公告)号: | CN107046428B | 公开(公告)日: | 2021-01-19 |
发明(设计)人: | 徐逢春;张力 | 申请(专利权)人: | 上海为准电子科技有限公司 |
主分类号: | H04B1/00 | 分类号: | H04B1/00;H04M1/24 |
代理公司: | 北京睿博行远知识产权代理有限公司 11297 | 代理人: | 龚家骅 |
地址: | 201600 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 天线 测试 耦合 系统 以及 方法 | ||
本发明公开了一种天线测试基板,该天线测试基板设置有测试天线组,其中测试天线组由射频开关以及多个频段各不相同的测试天线组成,多个测试天线分别与所述射频开关连接。通过采用该天线测试基板,可以针对不同类型、不同型号的无线测试终端进行灵活配置的耦合测试,具备高增益、高灵敏度和低成本的特点,同时避免模具的浪费,降低人工劳动的复杂性。
技术领域
本发明涉及通信技术领域,特别涉及一种天线测试基板。本发明同时还涉及一种耦合测试系统以及耦合测试方法。
背景技术
在手机的生产测试过程中,厂家需要对手机的天线进行射频性能耦合测试。由于当前的智能手机同时包含多种通信模式(例如2G,3G,4G,
BLUETOOTH,WiFi等),这些通信模式覆盖从400MHz到6GHz的非常宽的频带。因此在手机中需要针对不同频段的通信模式分别设置与之对应的频段的高增益天线。这些天线在手机中的位置分布根据不同品牌及不同型号又各不相同,因此在手机生产测试中,需要对这些不同的天线分别进行射频性能耦合测试。
现有技术在对手机的天线进行耦合测试时,对于每一种型号的被测手机均需要制作一种与这种被测手机相对应的耦合天线测试基板。在此耦合天线测试基板上,设置有匹配不同模式频段的多个高增益射频测试天线,且这些测试天线的位置和方向需要与被测终端相对应。测试中,需要使用不同通信模式的信号对手机的各个功能天线进行分别测试。此外,另一种测试方案是直接在屏蔽盒内的不同位置,设置多个不同方向的全频段测试天线,用于适配不同型号的被测终端天线。
然而,发明人在实现本发明的过程中发现,上文所述的第一种测试方法及装置在对不同类型、型号的终端装置的天线进行测试时,需要按照不同被测终端的类型、型号来生产众多相对应的耦合天线测试基板,同时在测试中,需要根据不同型号的终端更换对应的测试基板。甚至,对于某些天线布置复杂的被测终端,需要配置多块不同频段天线的测试基板,才能完成全功能的天线耦合测试。由此不仅会造成资源的浪费,也造成了人工劳动的复杂性。而上文所述的第二种测试方法虽然避免了针对每一种被测终端制作对应测试基板的弊端,但是其需要在屏蔽盒内布置多个全频段测试天线。此种天线不仅成本高昂,而且相对于一般的窄频段天线,其增益较低。同时由于布置位置随机,很难与被测终端的各个功能天线同时达成最佳耦合性能,因此会造成测试通过率降低的风险。
由此可见,如何使测试基板能够针对不同类型、不同型号的无线终端进行灵活的配置,从而避免模具的浪费以及降低人工劳动的复杂性,达到提高测试性能以及降低成本的目的,成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明提供了一种天线测试基板,该天线测试基板设置有测试天线组,其中:
所述测试天线组由射频开关以及多个频段各不相同的测试天线组成;
所述多个测试天线分别与所述射频开关连接。
优选地,所述多个测试天线沿所述天线测试基板均匀分布;
各所述测试天线组以被测终端在所述天线测试基板的对应位置为中心,呈中心对称设置。
优选地,还包括射频合路器,其中:
所述射频合路器用于增加相同频段天线的耦合信号增益,并与各所述测试天线组的射频开关连接。
优选地,还包括单片机,其中:
所述单片机用于通过所述天线测试基板的USB接口从上位机接收以及处理控制指令,并通过PCB控制信号线与所述天线测试基板的所有射频开关连接。
相应的,本申请还公开了一种耦合测试系统,包含待测终端、屏蔽盒、测试仪表、上位机以及如上述任一项所述的天线测试基板,其中:
所述屏蔽盒的内壁和盒口接触部分均设有吸波材料,且具有射频接口以及数据供电接口;
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