[发明专利]一种天线测试基板、耦合测试系统以及耦合测试方法

权利要求书

1.一种天线测试基板，其特征在于，所述天线测试基板设置有测试天线组，其中：

所述测试天线组由射频开关以及多个频段各不相同的测试天线组成；

所述多个测试天线分别与所述射频开关连接；

其中，所述天线测试基板包括射频合路器；

所述射频合路器用于增加相同频段天线的耦合信号增益，并与各所述测试天线组的射频开关连接；

其中，所述多个测试天线沿所述天线测试基板均匀分布；

各所述测试天线组以被测终端在所述天线测试基板的对应位置为中心，呈中心对称设置。

2.如权利要求1所述的天线测试基板，其特征在于，还包括单片机，其中：

所述单片机用于通过所述天线测试基板的USB接口从上位机接收以及处理控制指令，并通过PCB控制信号线与所述天线测试基板的所有射频开关连接。

3.一种耦合测试系统，其特征在于，包含待测终端、屏蔽盒、测试仪表、 上位机以及如权利要求1-2任一项所述的天线测试基板，其中：

所述屏蔽盒的内壁和盒口接触部分均设有吸波材料，且具有射频接口以 及数据供电接口；

所述天线测试基板不大于所述屏蔽盒，且所述天线测试基板安装于所述 屏蔽盒内；

所述待测终端固设于所述天线测试基板的天线侧的上方。

4.如权利要求3所述的耦合测试系统，其特征在于，所述屏蔽盒还包括基座，其中：

所述基座的高度可调节，用于固定设置所述待测终端以及所述天线测试 基板在屏蔽盒内的位置。

5.如权利要求3所述的耦合测试系统，其特征在于，

所述天线测试基板上的合路器射频接口通过所述屏蔽盒的所述射频接口 与测试仪表的射频端口相连接；

所述测试仪表通过所述天线测试基板上的测试天线收发耦合测试信号， 并对接收信号进行测量。

6.如权利要求5所述的耦合测试系统，其特征在于，

当所述耦合测试系统包含多块所述天线测试基板时，所述多块所述天线 测试基板其中的一块作为主控制板，除所述主控制板以外的其他天线测试基板作为子测试板通过控制接口与主控制板级联。

7.一种耦合测试方法，应用于如权利要求3所述的耦合测试系统中，其特 征在于，包括：

当进行指定频段的测试天线的耦合测试时，向所述待测终端以及所述天 线测试基板发送控制指令；

使用所述天线测试基板上所有天线阵列中与所述指定频段对应的测试天 线进行耦合测试；

通过所述测试仪表接收射频测试信号来进行测量，并通过LAN接口将测 试结果发送至所述上位机；

所述上位机控制所述测试仪表发送指定频段的测试信号，通过所述指定 频段的所有测试天线与所述待测终端的相对应的模式的天线进行通信；

所述待测终端接收所述测试信号，并通过USB接口将工作状态信息反馈给上位机。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述上位机向所述待测终端以及所述天线测试基板发送控制指令，具体为：

所述上位机控制所述待测终端使用指定模式频段的天线发送和接收所述测试天线对应的模式的射频信号，以及控制所述天线测试基板上所有的射频开关均拨至与所述指定频段对应的测试天线的位置。