[发明专利]一种循环冗余码校验方法及装置

说明书

本发明实施例提供了一种循环冗余码校验方法及装置，该校验方法包括：通过循环冗余码校验序列计算每个码块的循环冗余码校验CRC余数，其中，码块是循环冗余码校验中每个传输块分解后得到的；将获取的每个码块的CRC余数进行的组合，根据组合结果判断传输块的接收情况。这种方法能够进行循环冗余码的并行校验，提高循环冗余码校验处理速度与效率。

技术领域

本发明属于通信领域，尤其涉及一种循环冗余码校验方法及装置。

背景技术

循环冗余码校验(Cyclic Redundancy Check,CRC)利用除法及余数的原理来检测错误。实际应用的时候，发送装置计算CRC结果，并与数据一同发给接收装置。接收装置根据接收到的数据重新计算CRC，并与接收的CRC进行比较，判断接收数据是否存在错误。

CRC在发送端和接收端校验的时候，可以利用协商好的多项式B得到。假设添加CRC之后的接收序列为A，如果A除以B的余数为零，那么说明数据正确接收；如果A除以B的余数不为零，那么说明数据错误接收。

大多数CRC算法是串行处理，但是串行处理速度很慢，同时由于存储限制，有时不能获得整个接收序列，处理效率低。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种循环冗余码校验方法及装置，解决现有循环冗余码校验处理速度慢，效率低的问题。

为解决上述问题，本发明实施例的一方面提供一种循环冗余码校验方法，包括：

通过循环冗余码校验序列计算每个码块的循环冗余码校验CRC余数，其中，码块是循环冗余码校验中每个传输块分解后得到的；

将获取的每个码块的CRC余数进行组合，根据组合结果判断所述传输块的接收情况。

可选地，通过循环冗余码校验序列计算每个码块的CRC余数，包括：

将添加循环冗余码校验序列后的传输块分成多个码块；

利用校验矩阵校验每个码块；

如果码块满足校验矩阵的判断规则，利用循环冗余码校验序列计算码块的CRC余数。

可选地，校验矩阵为低密度奇偶检验码LDPC校验矩阵。

可选地，判断规则为码块与校验矩阵的乘积为零。

可选地，将获取的每个码块的CRC余数进行组合，计算公式为：

其中,CRC[N]表示N与循环冗余码校验序列的余数运算,传输块分成c个码块，每个码块的大小分别为d₀，d₁，……，d_c-1,p为并行度，取值范围为1至c，c为正整数,f＝c mod p；

i为求和公式中的变量,A_i(x)为第i个码块的多项式表达式，具体为j为求和公式中的变量,d_j为第j个码块的大小,a_j为第j个系数；

T_e为传输块的CRC余数，通过迭代计算获得T_e-1(x)至T₂(x)的计算公式为：

其中，n的取值范围为2至(e-1)之间的整数，包含2与(e-1),Q_m(x)的计算公式为

T₁(x)的计算公式为：

可选地，根据组合结果判断所述传输块的接收情况，包括：