[发明专利]一种循环冗余码校验方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710116437.5 申请日: 2017-03-01
公开(公告)号: CN108540258B 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 吴昊;刘涛;许进;王芳 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04L1/00 分类号: H04L1/00
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 518057 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 循环 冗余 校验 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种循环冗余码校验方法,其特征在于,所述方法包括:

通过循环冗余码校验序列计算每个码块的循环冗余码校验CRC余数,其中,所述码块是循环冗余码校验中每个传输块分解后得到的;

将获取的所述每个码块的CRC余数进行组合,根据组合结果判断所述传输块的接收情况;

其中,所述将获取的所述每个码块的CRC余数进行组合,计算公式为:

其中,CRC[N]表示N与循环冗余码校验序列的余数运算,传输块分成c个码块,每个码块的大小分别为d0,d1,......dc-1,c为正整数;p为并行度,取值范围为1至c;f=cmod p;i为求和公式中的变量,Ai(x)为第i个码块的多项式表达式,具体为j为求和公式中的变量,dj为第j个码块的大小,aj为第j个系数;

Te为传输块的CRC余数,通过迭代计算获得,Te-1(x)至T2(x)的计算公式为:

T1(x)的计算公式为:

其中,Qk(x)的计算公式为n的取值范围为2至(e-1)之间的整数,包含2与(e-1)。

2.根据权利要求1所述的循环冗余码校验方法,其特征在于,所述通过循环冗余码校验序列计算每个码块的CRC余数,包括:

将添加循环冗余码校验序列后的传输块分成多个码块;

利用校验矩阵校验每个码块;

如果码块满足校验矩阵的判断规则,利用循环冗余码校验序列计算码块的CRC余数。

3.根据权利要求2所述的循环冗余码校验方法,其特征在于,所述校验矩阵为低密度奇偶检验码LDPC校验矩阵。

4.根据权利要求3所述的循环冗余码校验方法,其特征在于,所述判断规则为所述码块与校验矩阵的乘积为零。

5.根据权利要求4所述的循环冗余码校验方法,其特征在于,所述根据组合结果判断所述传输块的接收情况,包括:

若Te(x)为零,CRC校验通过,传输块的数据正确接收。

6.一种循环冗余码校验装置,其特征在于,所述循环冗余码校验装置包括:

计算模块:用于通过循环冗余码校验序列计算每个码块的循环冗余码校验CRC余数,其中,所述码块是循环冗余码校验中每个传输块分解后得到的;

校验模块:用于将获取的所述每个码块的CRC余数进行组合,根据组合结果判断所述传输块的接收情况;

其中,所述校验模块包括:

第一计算子单元,计算公式为:

其中,Te为传输块的CRC余数,通过迭代计算获得;

第二计算子单元,用于迭代计算,计算公式为:

其中,n的取值范围为2至(e-1)之间的整数,包含2与(e-1);

第三计算子单元,计算公式为:

其中,CRC[N]表示N与循环冗余码校验序列的余数运算,传输块分成c个码块,每个码块的大小分别为d0,d1,......dc-1,c为正整数,p为并行度,取值范围为1至c,f=cmod p;

Qk(x)的计算公式为i为求和公式中的变量,Ai(x)为第i个码块的多项式表达式,具体为j为求和公式中的变量,dj为第j个码块的大小,aj为第j个系数。

7.根据权利要求6所述的循环冗余码校验装置,其特征在于,所述计算模块包括:

分割单元:用于将添加循环冗余码校验序列后的传输块分成多个码块;

校验单元:用于利用校验矩阵校验每个码块;

余数计算单元:用于如果码块满足校验矩阵的判断规则,利用循环冗余码校验序列计算码块的CRC余数。

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