[发明专利]一种介质厚度测量方法、装置及ATM机

说明书

本发明属于测量领域，提供了一种介质厚度测量方法、装置及ATM机，所述方法获取待测量介质的厚度信号值；确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间；获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定；根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。通过本发明实施例，根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定，无需额外的高精度测试治具，省去了繁琐的静态校正环节，具有较强的实用性。

技术领域

本发明属于测量领域，尤其涉及一种介质厚度测量方法、装置及ATM机。

背景技术

对于介质类有价文件如纸币、支票、汇票等的厚度检测是鉴别变造币、胶带钞、重张钞的重要手段。由于介质的厚度很薄，因此，依据介质的厚度检测结果进行防伪、重张等判断时，厚度检测装置的检测精度要求就尤为之高。如在ATM和纸币清分机的纸币识别模块中，纸币的厚度测量是必备的功能，通过纸币的厚度特征可以来识别纸币的真伪、粘贴和重张等。

为了保证测量的精度，现有技术中通常采用静态测试进行非常细致的多点校正，并依据此静态测试结果进行建表，应用过程中可以根据厚度信号值查表找到对应的实际厚度值。该方案需要制作配套的高精度测试治具，且其静态校正环节较为繁琐。

发明内容

鉴于此，本发明实施例提供一种介质厚度测量方法及装置，以解决现有的介质厚度测量方法中需要制作配套的高精度测试治具，且其静态校正环节较为繁琐的问题。

本发明实施例提供的一种介质厚度测量方法，可以包括：

获取待测量介质的厚度信号值；

确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间；

获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定；

根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。

进一步地，所述标准参数可以包括标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数；

所述根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值可以包括：

根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值；

根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值；

根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值。

进一步地，所述根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值可以包括：

按照预设的第一公式根据所述标准介质的实际厚度值计算所述第一厚度值；

所述第一公式为：x'＝x_n，其中，0≤n≤N-1；N为厚度区间的总个数，n为确定的所述厚度区间的序号，x'为所述第一厚度值，x_n为所述标准介质的实际厚度值；

所述根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值可以包括：

按照预设的第二公式根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算所述第二厚度值；

所述第二公式为：其中，x”为所述第二厚度值，y为所述待测量介质的厚度信号值，y_n为所述标准介质的厚度信号值，k_n为所述转化系数；