[发明专利]一种介质厚度测量方法、装置及ATM机

权利要求书

1.一种介质厚度测量方法，其特征在于，包括：

获取待测量介质的厚度信号值；

确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间；

获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定，包括标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数；

根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值；

所述转化系数的计算过程包括：

获取各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值；

根据所述各个标准介质的厚度信号值划分各个厚度区间；

根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数。

2.根据权利要求1所述的介质厚度测量方法，其特征在于，所述根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值包括：

根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值；

根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值；

根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值。

3.根据权利要求2所述的介质厚度测量方法，其特征在于，所述根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值包括：

按照预设的第一公式根据所述标准介质的实际厚度值计算所述第一厚度值；

所述第一公式为：x'＝x_n，其中，0≤n≤N-1；N为厚度区间的总个数，n为确定的所述厚度区间的序号，x'为所述第一厚度值，x_n为所述标准介质的实际厚度值；

所述根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值包括：

按照预设的第二公式根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算所述第二厚度值；

所述第二公式为：其中，x”为所述第二厚度值，y为所述待测量介质的厚度信号值，y_n为所述标准介质的厚度信号值，k_n为所述转化系数；

所述根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值包括：

按照预设的第三公式据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值；

所述第三公式为：x＝x'+x”，其中，x为所述待测量介质的实际厚度值。

4.根据权利要求1所述的介质厚度测量方法，其特征在于，所述根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数包括：

获取与所述各个厚度区间的下限值对应的第一标准介质的厚度信号值和实际厚度值；

获取与所述各个厚度区间的上限值对应的第二标准介质的厚度信号值和实际厚度值；

根据所述第一标准介质的厚度信号值、所述第一标准介质的实际厚度值、所述第二标准介质的厚度信号值和所述第二标准介质的实际厚度值计算所述转化系数。

5.一种介质厚度测量装置，其特征在于，包括：

厚度信号值获取模块，用于获取待测量介质的厚度信号值；

厚度区间确定模块，用于确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间；

标准参数获取模块，用于获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定，包括标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数；

计算模块，用于根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值；

标准介质信息获取模块，用于获取各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值；

厚度区间划分模块，用于根据所述各个标准介质的厚度信号值划分各个厚度区间；

转化系数计算模块，用于转化系数根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数。