[发明专利]多光谱图像传感器及其制作方法有效
申请号: | 201710081904.5 | 申请日: | 2017-02-15 |
公开(公告)号: | CN106847851B | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 王勇 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 王仙子 |
地址: | 201210 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱 图像传感器 及其 制作方法 | ||
本发明涉及一种多光谱图像传感器及其制作方法。所述多光谱图像传感器包括前端结构,用于进行光电转换和处理;设置于所述前端结构上的像素层;其中,所述像素层具有N个像素单元,N≥4,所述像素单元排列成多个阵列,每个阵列中各个像素单元的感光波长不同。由此可以实现多光谱同时检测,提高效率,降低成本,并实现小型化。
技术领域
本发明属集成电路技术领域,具体涉及一种多光谱图像传感器及其制作方法。
背景技术
光谱分析是科学工作中应用最广泛的方法之一,被用来解决物理学、化学、生物学、地质学、地球物理学、医学和其它学科中的基础问题和应用问题。这些问题包含于各个领域中,从而全面的保证了整个科学的进步,也进一步影响着人们的生产生活。
光谱检测是一种在科研和生产中广泛采用的技术。随着科研和生产技术的发展和进步,光谱检测技术也面临着诸多的需求和挑战。
如图1所示,当前很多的光谱检测,是将光源置于一个密闭的装置内,摄像机2和聚光装置3通过一支架1安装在滤光片切换装置4的观察窗的上方,获取滤光片中样品的灰度图像,并且通过滤光片切换装置4切换不同光谱的滤光片,从而检测样品。
可见,现有的光谱检测手段粗糙,局限性大。其需要通过不停的切换滤光片来实现不同波长的光谱检测,效率低下;并且,受限于滤光片切换装置的体积,一般只有20个以内的滤光片可切换,制约了光谱检测范围。
发明内容
本发明在于提供一种多光谱图像传感器及其制作方法,用以改善光谱检测机制,提高检测效率。
为解决上述问题,本发明提供一种多光谱图像传感器,包括:
前端结构,用于进行光电转换和处理;
设置于所述前端结构上的像素层;
其中,所述像素层具有N个像素单元,N≥4,所述像素单元排列成多个阵列,每个阵列中各个像素单元的感光波长不同。
可选的,对于所述的多光谱图像传感器,所述像素单元排列成多个重复的阵列。
可选的,对于所述的多光谱图像传感器,在每个阵列中像素单元的感光波长依次增加。
可选的,对于所述的多光谱图像传感器,在每个阵列的像素单元的感光半波长宽度为λi/2-20nm~λi/2+20nm,其中λi为第i像素单元的设定感光波长,1≤i≤N。
可选的,对于所述的多光谱图像传感器,所述前端结构具有金属连线,每个像素单元皆设置在相邻金属连线之间。
可选的,对于所述的多光谱图像传感器,还包括:设置于所述像素层上的微透镜层。
可选的,对于所述的多光谱图像传感器,还包括:设置于所述前端结构边缘的焊盘区。
本发明还提供一种多光谱图像传感器的制作方法,包括:
提供前端结构,所述前端结构用于进行光电转换和处理;
在所述前端结构上形成像素层;
其中,所述像素层具有N个像素单元,N≥4,所述像素单元排列成多个阵列,每个阵列中各个像素单元的感光波长不同。
可选的,对于所述的多光谱图像传感器的制作方法,在所述前端结构上形成像素层的步骤包括:
在前端结构上涂覆第一材料层,覆盖前端结构上的金属连线;
在第一材料层上涂覆第一感光材料层,并通过光刻形成第一像素单元;
在第一材料层上涂覆第K感光材料层,并通过光刻形成第K像素单元;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的