[发明专利]半导体装置、光源控制装置以及光源控制系统

说明书

本发明涉及半导体装置、光源控制装置以及光源控制系统。本发明提供能够诊断通信网络质量的半导体装置。所公开的是耦接到光源的半导体装置，该半导体装置包括信号处理单元和劣化检测器，其中信号处理单元耦接到接口模块并且发送以及接收指令信号以增大或减小光源的照明强度，劣化检测器基于表示接口模块所接收的指令信号的数据的信号的变化定时是否落入预定区间内来检测接口模块的劣化。

相关申请的交叉引用

2016年3月4日提交的日本专利申请No.2016-042488的公开的全部内容(包括说明书、附图和摘要)通过引用并入本文中。

技术领域

本公开涉及调整照明设备的光照的装置。

背景技术

一方面，近来，主要在欧洲，开发了通过发送遵循数字可寻址照明接口(DALI)标准的信号作为调光指令信号来控制照明设备的系统(照明控制系统)作为照明控制系统。

在这方面，日本未经审查的专利申请公开No.2013-4484中提出了遵循DALI标准的照明控制系统。

在这个公开中，还提出了估算照明设备的寿命的方法。

[相关领域文献]

[专利文献]

[专利文献1]

日本未经审查的专利申请公开No.2013-4484

发明内容

另一方面，用于照明控制系统的通信网络的质量也是重要的。

已开发了本公开来解决以上问题，并且本公开意图提供能够诊断通信网络质量的半导体装置、光源控制装置和光源控制系统。

其它问题和新颖的特征将根据本说明书中的描述和附图而变得清楚。

根据一个实施例，本发明属于耦接到光源的半导体装置。半导体装置包括信号处理单元和劣化检测器。信号处理单元耦接到接口模块并且发送以及接收指令信号以增大或减小光源的照明强度。劣化检测器基于表示通过接口模块接收的指令信号的数据的信号的变化定时是否落入预定区间内来检测接口模块的劣化。

根据一个实施例，由于劣化检测器检测接口模块劣化的事实，可以检查并且诊断通信网络质量。还可以延长通信网络的寿命。

附图说明

图1是说明根据第一实施例的光源控制系统1的配置的图。

图2是说明根据第一实施例的控制器10及其外围电路的配置的图。

图3是说明根据第一实施例的DALI通信接口模块4的配置的图。

图4A和4B是说明根据第一实施例的1比特数据波形的图。

图5A和5B是说明根据第一实施例的判断1比特数据波形是否劣化的方法的图。

图6A和6B是说明根据第一实施例的判断1比特数据波形是否劣化的另一个方法的图。

图7是根据第一实施例执行数据是否劣化的判断的流程图。

图8是说明根据第二实施例的用在光源控制系统1中的得分表的一个示例的图。

图9A到9D是说明根据第二实施例的得分表的转变的图。

图10是说明基于第二实施例的得分表来诊断劣化程度的方法的图。

图11A到11C是说明基于作为第二实施例的第一修改示例的得分表来诊断劣化程度的方法的图。

图12A和12B是说明根据第二实施例的第二修改示例的判断数据波形是否劣化的方法的图。