[发明专利]半导体装置、光源控制装置以及光源控制系统

权利要求书

1.一种耦接到光源的半导体装置，所述半导体装置包括：

信号处理单元，所述信号处理单元耦接到接口模块并且发送以及接收指令信号以增大或减小所述光源的照明强度；

劣化检测器，所述劣化检测器检测所述接口模块的劣化程度；

得分表，所述得分表储存所述劣化程度；

其中，所述劣化检测器由所述接口模块所接收的所述指令信号的电压电平从“H”电平变化到“L”电平或者从“L”电平变化到“H”电平的定时是否在预定的定时窗口内来确定所述劣化程度；以及

其中，所述得分表还储存所述劣化程度随着时间的变化。

2.根据权利要求1所述的半导体装置，进一步包括驱动单元，所述驱动单元基于所述信号处理单元所接收的指令信号来控制所述光源的照明强度。

3.根据权利要求1所述的半导体装置，其中所述预定的定时窗口的长度是能够根据调整水平来调整的。

4.根据权利要求1所述的半导体装置，进一步包括调整器，所述调整器基于所述劣化检测器所检测的结果，来调整所述信号处理单元发送和接收所述指令信号的定时。

5.根据权利要求1所述的半导体装置，其中所述劣化检测器还基于所述接口模块所接收并且表示比特边界的指令信号的电压电平从“H”电平变化到“L”电平或者从“L”电平变化到“H”电平的第二定时是否落入第二预定的定时窗口内，来确定所述接口模块的劣化程度。

6.一种光源控制装置，包括：

信号处理单元，所述信号处理单元耦接到接口模块并且发送以及接收指令信号以增大或减小光源的照明强度；

驱动单元，所述驱动单元基于所述信号处理单元所接收的指令信号来控制所述光源的照明强度；以及

劣化检测器，所述劣化检测器检测所述接口模块的劣化程度；

得分表，所述得分表储存所述劣化程度；

其中，所述劣化检测器由所述接口模块所接收的所述指令信号的电压电平从“H”电平变化到“L”电平或者从“L”电平变化到“H”电平的定时是否在预定的定时窗口内来确定所述劣化程度；以及

其中，所述得分表还储存所述劣化程度随着时间的变化。

7.根据权利要求6所述的光源控制装置，其中所述接口模块经由网络从另一个光源控制装置接收指令信号。

8.根据权利要求6所述的光源控制装置，其中所述接口模块包括光耦合器。

9.根据权利要求6所述的光源控制装置，进一步包括：

备用冗余接口模块，所述备用冗余接口模块设置为与所述接口模块成对并且能够发送以及接收另外的指令信号以增大或减小所述光源的照明强度；以及

开关，所述开关将所述信号处理单元和所述接口模块之间的耦接切换为所述信号处理单元和冗余接口模块之间的耦接。

10.一种光源控制系统，包括：

多个光源；以及

多个光源控制装置，所述多个光源控制装置中的每个光源控制装置都设置为控制光源中的相应光源，并且所述多个光源控制装置中的每个光源控制装置能够经由网络与另一个光源控制装置通信，

光源控制装置中的每个光源控制装置都包括：

信号处理单元，所述信号处理单元耦接到接口模块并且发送以及接收指令信号以增大或减小光源的照明强度；

驱动单元，所述驱动单元基于所述信号处理单元所接收的指令信号来控制所述光源的照明强度；以及

劣化检测器，所述劣化检测器检测所述接口模块的劣化程度；

得分表，所述得分表储存所述劣化程度；

其中，所述劣化检测器由所述接口模块所接收的指令信号的电压电平从“H”电平变化到“L”电平或者从“L”电平变化到“H”电平的定时是否在预定的定时窗口内来确定所述劣化程度；

以及

其中，所述得分表还储存所述劣化程度随着时间的变化

所述光源控制系统进一步包括服务器，所述服务器收集所述劣化检测器所检测的结果。