[发明专利]数据检测装置有效

专利信息
申请号: 201710069141.2 申请日: 2017-02-08
公开(公告)号: CN107527651B 公开(公告)日: 2020-07-17
发明(设计)人: 林纪舜;张雅廸;柳德铉;林小峰;黄科颕 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: G11C13/00 分类号: G11C13/00;G01R19/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马雯雯;臧建明
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 数据 检测 装置
【说明书】:

发明提供一种适用于检测储存器装置的读出数据的数据检测装置包括检测参考电压产生器、检测参考电流产生器以及检测放大器。检测参考电压产生器接收参考电压,根据参考电压及与控制信号产生参考电流,并根据参考电流产生检测参考电压。检测参考电流产生器接收检测参考电压,并根据检测参考电压与控制信号产生检测参考电流。检测放大器接收检测参考电流以及来自所选择的储存单元的读出电流,并根据所检测的检测参考电流与读出电流之间的电流差以产生读出数据。

技术领域

本发明涉及一种适用于储存器装置的数据检测装置,且特别涉及一种用来提供可调式参考电压给储存器装置以检测读出数据的数据检测装置。

背景技术

近年来,非易失性储存器装置在电子装置中变的更加重要。因此,推出了电阻式随机存取储存器(Resistive Random Access Memory,RRAM)。

在现有的技术中,用于RRAM的检测数据装置提供了在固定电压准位的检测参考电压。检测参考电流可以根据检测参考电压而产生,且检测数据装置的检测放大器可以检测到检测参考电流以及来自所选择的电阻式随机存取储存单元(RRAM Cell)的读出电流以获得读出数据。由于RRAM的读取边缘(Margin Read)准确率取决于检测参考电压的偏压状况,例如,通过使用固定电压准位的检测参考电压,读取边缘在读出电流位于第一个电流范围内时状况良好,但是在读出电流位于第二个电流范围内时却失效了。

发明内容

本发明是关于多种数据检测装置,这些装置提供动态的检测参考电压以箝住所选择的储存单元的读取电压。

本发明提供一种适用于检测储存器装置的读出数据的数据检测装置。数据检测装置包括检测参考电压产生器、检测参考电流产生器以及检测放大器。检测参考电压产生器接收参考电压,根据参考电压及与控制信号产生参考电流,并根据参考电流产生检测参考电压。检测参考电流产生器耦接于检测参考电压产生器,接收检测参考电压,并根据检测参考电压与控制信号产生检测参考电流。检测放大器具有第一输入端及第二输入端,第一输入端耦接于检测参考电流产生器,第二输入端耦接于储存器装置中所选择的储存单元。检测放大器接收检测参考电流以及来自选中储存单元的读出电流,并根据所检测的参考电流与读出电流之间的电流差以产生读出数据。

本发明提供另一种适用于检测储存器装置的读出数据的数据检测装置。数据检测装置包括运算放大器、第一晶体管、第二晶体管、可变电阻、检测放大器以及第三晶体管。运算放大器具有第一输入端以接收参考电压,且具有输出端以提供检测参考电压。第一晶体管具有第一晶体管以接收电源电压,且具有第二端以耦接于第一晶体管的控制端。第二晶体管具有第一端以耦接于第一晶体管的第二端,且具有控制端以直接接收检测参考电压,且具有第二端以耦接于运算放大器的第二输入端。可变电阻耦接于第二晶体管的第二端与参考接地端之间,其中可变电阻的电阻值是根据控制信号决定,并根据检测参考电压与可变电阻的电阻值产生检测参考电流。检测放大器具有第一输入端以及输出端,第一输入端耦接于第一晶体管的第二端以检测检测参考电流,输出端用以产生读出数据。第三晶体管具有第一端以耦接于检测放大器的第二输入端,且具有控制端以直接接收检测参考电压,且具有第二端以耦接于选中储存单元。

基于上述,检测参考电压可以被动态地调整,且检测参考电压可以针对储存器装置在进行读取边缘及设定验证/重设验证读取准位时,在一检测参考电流准位上,进行偏压的自调节。此外,在本发明中,参考电流以及检测参考电流是根据二个匹配电路而产生。如此,可以确保储存器装置的读取边缘准确率。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂,下文特举实施例,并配合所附附图作详细说明如下。

附图说明

图1显示依据本发明的一实施例数据检测装置的电路图;

图2显示依据本发明的另一实施例数据检测装置的电路图;

图3显示依据本发明的另一实施例数据检测装置的电路图;

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