[发明专利]数据检测装置有效
| 申请号: | 201710069141.2 | 申请日: | 2017-02-08 |
| 公开(公告)号: | CN107527651B | 公开(公告)日: | 2020-07-17 |
| 发明(设计)人: | 林纪舜;张雅廸;柳德铉;林小峰;黄科颕 | 申请(专利权)人: | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G11C13/00 | 分类号: | G11C13/00;G01R19/00 |
| 代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 马雯雯;臧建明 |
| 地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 数据 检测 装置 | ||
1.一种数据检测装置,适用于检测储存器装置的读出数据,其特征在于,包括:
检测参考电压产生器,接收参考电压,根据所述参考电压与控制信号产生参考电流,并根据所述参考电流产生检测参考电压;
检测参考电流产生器,耦接于所述检测参考电压产生器,接收所述检测参考电压,并根据所述检测参考电压与所述控制信号产生检测参考电流;以及
检测放大器,具有第一输入端及第二输入端,所述检测放大器的第一输入端耦接于所述检测参考电流产生器,所述检测放大器的第二输入端耦接所述储存器装置所选择的储存单元,所述检测放大器接收所述检测参考电流以及来自所选择的储存单元的读出电流,并根据检测所述检测参考电流与所述读出电流之间的电流差以产生所述读出数据,
所述检测参考电压产生器包括:
运算放大器,具有第一输入端以接收所述参考电压;
第一晶体管,具有第一端以接收电源电压,且具有耦接于所述运算放大器的输出端的控制端;
二极管,具有阳极及阴极,其中所述二极管的阳极耦接于所述第一晶体管的第二端,所述二极管的阴极耦接于所述运算放大器的第二端,其中所述检测参考电压产生于所述二极管的阳极;以及
第一可变电阻,耦接于所述二极管的阴极与参考接地端之间,其中所述第一可变电阻的电阻值根据所述控制信号来决定,
其中所述第一可变电阻包括:
多个开关及多个电阻,其中所述多个开关串联于所述二极管的所述阴极与所述参考接地端之间,所述多个电阻串联于所述二极管的所述阴极与所述参考接地端之间,且所述多个开关分别与所述多个电阻并联,
其中,所述多个开关分别由所述控制信号的多个二进制位所控制。
2.根据权利要求1所述的数据检测装置,其特征在于,所述检测参考电流产生器包括:
第二晶体管,具有第一端以接收所述电源电压,且所述第二晶体管的第二端耦接于所述第二晶体管的控制端;
第三晶体管,具有第一端以耦接于所述第二晶体管的第二端,所述第三晶体管的控制端接收所述检测参考电压;以及
第二可变电阻,耦接于所述第三晶体管的第二端与所述参考接地端之间,其中所述第二可变电阻的电阻值根据所述控制信号决定,且所述第一可变电阻与所述第二可变电阻的电阻值相等。
3.根据权利要求2所述的数据检测装置,其特征在于,所述第二可变电阻包括:
多个开关及多个电阻,其中所述多个开关串联于所述第三晶体管的第二端与所述参考接地端之间,所述多个电阻串联于所述第三晶体管的第二端与所述参考接地端之间,且所述多个开关分别与所述多个电阻并联,
其中,所述多个开关分别受控于所述控制信号的多个二进制位。
4.根据权利要求1所述的数据检测装置,其特征在于,所选择的储存单元为非易失性储存单元。
5.根据权利要求1所述的数据检测装置,其特征在于,所选择的储存单元为电阻式储存单元、相变化储存单元、磁电阻式随机存取储存单元、铁电式随机存取储存单元或电导桥式随机存取储存单元。
6.根据权利要求5所述的数据检测装置,其特征在于,若所选择的储存单元为电阻式储存单元,则所选择的储存单元为一电阻式储存单元、一二极管及一电阻式储存单元、一选择器及一电阻式储存单元、一双极性晶体管及一电阻式储存单元或一互补式电阻开关储存单元。
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