[发明专利]ESD保护电路在审

专利信息
申请号: 201710068646.7 申请日: 2017-02-08
公开(公告)号: CN106816865A 公开(公告)日: 2017-06-09
发明(设计)人: 吕斌 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H02H9/04 分类号: H02H9/04
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司31211 代理人: 戴广志
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: esd 保护 电路
【权利要求书】:

1.一种ESD保护电路,包括:

一ESD检测电路,用于检测ESD脉冲信号,并输出ESD信号;其特征在于,还包括:

一负电荷泵,与所述ESD检测电路相连接,用于产生负电压,并用该负电压控制ESD泄放电路的关态电流Ioff

一ESD泄放电路,与所述ESD检测电路相连接,用于泄放ESD电流。

2.如权利要求1所述的ESD保护电路,其特征在于,

所述ESD检测电路,包括:第一PMOS晶体管(PM1)、第二PMOS晶体管(PM2)、第三PMOS晶体管(PM3)、第一NMOS晶体管(NM1)、第二NMOS晶体管(NM2)、一电阻(R1)和一电容(C1);

第一PMOS晶体管(PM1)、第二PMOS晶体管(PM2)和第三PMOS晶体管(PM3)的源极以及电阻(R1)的一端与电源电压端VDD相连接;

电阻(R1的另一端与电容(C1)的一端、第三PMOS晶体管(PM3)的栅极和第一NMOS晶体管(NM1)的栅极相连接;电容(C1)的另一端接地;

第三PMOS晶体管(PM3)的漏极与第一NMOS晶体管(NM1)的漏极、第二PMOS晶体管(PM2)的栅极和第二NMOS晶体管(NM2)的栅极相连接;第一NMOS晶体管(NM1)的源极接地;

第二PMOS晶体管(PM2)的漏极与第二NMOS晶体管(NM2)的漏极和第一PMOS晶体管(PM1)的栅极相连接;第二NMOS晶体管(NM2)的源极接地;

所述负电荷泵的两输入端分别与第一PMOS晶体管(PM1)的栅极和漏极相连接;第一PMOS晶体管(PM1)的漏极作为输出端输出ESD信号;

所述ESD泄放电路为一NMOS的ESD泄放晶体管(BigNMOS);所述ESD泄放晶体管(BigNMOS)的栅极与第一PMOS晶体管(PM1)的漏极相连接,其漏极与电源电压VDD相连接,其源极接地。

3.如权利要求2所述的ESD保护电路,其特征在于:在ESD事件到来的状态下,第一PMOS晶体管(MP1)导通,负电荷泵关闭,ESD泄放晶体管(BigNMOS)的栅极端电压被拉高,ESD泄放晶体管(BigNMOS)开启,泄放ESD电流。

4.如权利要求2所述的ESD保护电路,其特征在于:在正常工作状态下,第一PMOS晶体管下(MP1)关闭,负电荷泵工作产生一个负电压,ESD泄放晶体管(BigNMOS)的栅极端电压被拉到一个负电压,ESD泄放晶体管(BigNMOS)不能触发,处于关闭状态。

5.一种集成电路芯片,其特征在于:具有多个电路模块,其中一个电路模块中具有权利要求1或2所述的ESD保护电路,其余电路模块具有ESD泄放电路;具有ESD保护电路的电路模块,其中ESD检测电路产生的ESD信号作为一个共用信号送给分布在IO环上其他地方ESD泄放电路的输入端。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司,未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710068646.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top