[发明专利]ESD保护电路在审
申请号: | 201710068646.7 | 申请日: | 2017-02-08 |
公开(公告)号: | CN106816865A | 公开(公告)日: | 2017-06-09 |
发明(设计)人: | 吕斌 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H02H9/04 | 分类号: | H02H9/04 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | esd 保护 电路 | ||
1.一种ESD保护电路,包括:
一ESD检测电路,用于检测ESD脉冲信号,并输出ESD信号;其特征在于,还包括:
一负电荷泵,与所述ESD检测电路相连接,用于产生负电压,并用该负电压控制ESD泄放电路的关态电流Ioff;
一ESD泄放电路,与所述ESD检测电路相连接,用于泄放ESD电流。
2.如权利要求1所述的ESD保护电路,其特征在于,
所述ESD检测电路,包括:第一PMOS晶体管(PM1)、第二PMOS晶体管(PM2)、第三PMOS晶体管(PM3)、第一NMOS晶体管(NM1)、第二NMOS晶体管(NM2)、一电阻(R1)和一电容(C1);
第一PMOS晶体管(PM1)、第二PMOS晶体管(PM2)和第三PMOS晶体管(PM3)的源极以及电阻(R1)的一端与电源电压端VDD相连接;
电阻(R1的另一端与电容(C1)的一端、第三PMOS晶体管(PM3)的栅极和第一NMOS晶体管(NM1)的栅极相连接;电容(C1)的另一端接地;
第三PMOS晶体管(PM3)的漏极与第一NMOS晶体管(NM1)的漏极、第二PMOS晶体管(PM2)的栅极和第二NMOS晶体管(NM2)的栅极相连接;第一NMOS晶体管(NM1)的源极接地;
第二PMOS晶体管(PM2)的漏极与第二NMOS晶体管(NM2)的漏极和第一PMOS晶体管(PM1)的栅极相连接;第二NMOS晶体管(NM2)的源极接地;
所述负电荷泵的两输入端分别与第一PMOS晶体管(PM1)的栅极和漏极相连接;第一PMOS晶体管(PM1)的漏极作为输出端输出ESD信号;
所述ESD泄放电路为一NMOS的ESD泄放晶体管(BigNMOS);所述ESD泄放晶体管(BigNMOS)的栅极与第一PMOS晶体管(PM1)的漏极相连接,其漏极与电源电压VDD相连接,其源极接地。
3.如权利要求2所述的ESD保护电路,其特征在于:在ESD事件到来的状态下,第一PMOS晶体管(MP1)导通,负电荷泵关闭,ESD泄放晶体管(BigNMOS)的栅极端电压被拉高,ESD泄放晶体管(BigNMOS)开启,泄放ESD电流。
4.如权利要求2所述的ESD保护电路,其特征在于:在正常工作状态下,第一PMOS晶体管下(MP1)关闭,负电荷泵工作产生一个负电压,ESD泄放晶体管(BigNMOS)的栅极端电压被拉到一个负电压,ESD泄放晶体管(BigNMOS)不能触发,处于关闭状态。
5.一种集成电路芯片,其特征在于:具有多个电路模块,其中一个电路模块中具有权利要求1或2所述的ESD保护电路,其余电路模块具有ESD泄放电路;具有ESD保护电路的电路模块,其中ESD检测电路产生的ESD信号作为一个共用信号送给分布在IO环上其他地方ESD泄放电路的输入端。
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