[发明专利]一种可修复氮化硅界面复合态的方法有效
申请号: | 201710065104.4 | 申请日: | 2017-02-06 |
公开(公告)号: | CN106898676B | 公开(公告)日: | 2018-11-27 |
发明(设计)人: | 李静;乐雄英;钞智权;邓行平;衣玉林;王学成;吴帅;王超 | 申请(专利权)人: | 苏州润阳光伏科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0216;H01L21/02 |
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地址: | 215300 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 修复 界面 复合 方法 | ||
本发明公开了一种可修复氮化硅界面复合态的方法,将原先的等离子体预处理步骤更改到了中间,即沉积完一层膜后再开始等离子体预处理,将原先的步骤:等离子体预处理→沉积第一层膜→沉积第二层膜的过程改为沉积第一层膜→等离子体预处理→沉积第二层膜→沉积第三层膜。这样不仅氧化层受到了保护,提高了抗电势诱导衰减效果,同时在沉积完了第二层膜后,氮化硅的活性比较高,在界面区域容易产生复合,增加一层等离子体预处理,可以使沉积的氮化硅界面的复合得到比较好的修复,减少复合的产生,增强了晶硅电池的钝化效果,提升电池的转换效率。
技术领域
本发明涉及太阳能电池生产领域,特别涉及一种可修复氮化硅界面复合态的方法。
背景技术
太阳能电池的镀膜过程是借助微波或射频等使含有薄膜组成原子的气体电离,在局部形成等离子体,而等离子化学活性很强,很容易发生反应,在基片上沉积出所期望的薄膜,根据薄膜的干涉原理,在电池表面镀一层或多层薄膜,可以有效减少光的反射,这种膜属于减反射膜,氮化硅膜作为太阳能电池的减反射膜,如果将氮化硅膜设计成不同厚度的多层膜,合理匹配各层膜之间的膜厚与折射率,就可以拓展电池对光的吸收,进一步降低硅片的光反射,还可以使电池的转换效率明显提高,同时也可以提高氮化硅膜对电池的钝化效果。传统的的氮化硅膜在沉积前,有一步等离子体预处理,会对硅片表面进行吹扫,容易将抗电势诱导衰减的氧化层损伤;同时双层氮化硅减反射膜是连续沉积的,可以一定程度扩大薄膜的反射带增加光吸收,但也存在一些问题,如沉积的高活性的氮化硅薄膜的界面地方复合严重,导致钝化效果不好,短波光吸收较少等。
发明内容
为了克服上述缺陷,本发明提供了一种可修复氮化硅界面复合态的方法,增强晶硅太阳能电池的抗电势诱导效果,同时减少电池氮化硅薄膜界面的复合,提高晶硅太阳能电池的转换效率。
本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是:一种可修复氮化硅界面复合态的方法,按照如下的步骤进行:
步骤一,沉积一,将硅片放入镀膜炉管中,保持载舟温度为400-500℃,以2-10℃/min的速率升温至440-500℃进行沉积,按照压力1500 mTor,氨气流量3900slm,硅烷流量820sccm,射频功率7000瓦,最大电流28A,脉冲开5ms,脉冲关50ms的标准进行沉积,沉积时间100s;
步骤二、等离子体预处理,温度为455℃,按照压力1500mTor,氨气流量3000slm,氮气流量3000slm,射频功率6200瓦,最大电流30A,脉冲开6ms,脉冲关12ms的标准进行等离子体预处理,预处理时间18s;
步骤三,沉积二,按照温度为455℃,压力1500 mTor,氨气流量3900slm,硅烷流量820sccm,射频功率7000瓦,最大电流28A,脉冲开5ms,脉冲关50ms的标准进行沉积,沉积时间90s;
步骤三,沉积三,按照温度为455℃,压力1600 mTor,氨气流量5400slm,硅烷流量750sccm,射频功率7000瓦,最大电流28A,脉冲开5ms,脉冲关50ms的标准进行沉积,沉积时间390s。
本发明的有益效果是:将原先的等离子体预处理步骤更改到了中间,即沉积完一层膜后再开始等离子体预处理,将原先的步骤:等离子体预处理→沉积第一层膜→沉积第二层膜的过程改为沉积第一层膜→等离子体预处理→沉积第二层膜→沉积第三层膜。这样不仅氧化层受到了保护,提高了抗电势诱导衰减效果,同时在沉积完了第二层膜后,氮化硅的活性比较高,在界面区域容易产生复合,增加一层等离子体预处理,可以使沉积的氮化硅界面的复合得到比较好的修复,减少复合的产生,增强了晶硅电池的钝化效果,提升电池的转换效率。
具体实施方式
本发明在原生产工艺基础上进行了改进,但是本发明可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的