[发明专利]一种具有面阵光电传感器的探测方法

说明书

本申请公开一种探测方法，探测装置中的光发射模块发出红外探测光，红外探测光射向环境中，遇到被测物体被反射；接收模块接收由被测物体反射的红外探测光，接收模块得到由被测物体反射的红外探测光的采样信息；数据处理控制模块依据接收模块得到的采样信息，基于飞行时间法计算出探测装置与被测物体之间的距离；接收模块中具有面阵光电传感器，所述面阵光电传感器中的光电传感器单元能够独立得到采样信息。本发明涉及的面阵光电传感器中的每个面阵光电传感器单元都能够独立控制进行独立工作，使得探测方法更灵活、能够实现更多的功能以及能够更快的探测速度等。

技术领域

本申请涉及一种探测方法，特别涉及一种具有面阵光电传感器的探测方法。

背景技术

光学探测装置是一种通过向环境中主动发出探测光束，进行非接触式测距的设备。常见的光学探测方法有三角测距法，飞行时间法（Time of Flight，简称TOF）等。

其中，基于飞行时间测距方法的光学探测装置包括：光发射模块、接收模块、数据处理模块等。光发射模块发出红外探测光束，该红外探测光束发射到被测物体（即障碍物）表面，遇到障碍物后光束反射到接收模块上，数据处理模块通过计算发射与接收之间的时间（或者相位差）差、已知光速，即可求出被测物体到装置的距离。这类装置将用于测距的光发射模块、光接收模块等部件安装在一可连续旋转的平台上实现光束的，通过旋转可以得到一周360度的环境距离信号。

然而，其中的基于相位差的TOF测距方法中，通常需要对由障碍物反射回的探测光进行采样之后，进而计算出发射的探测光与从光源发出的红外探测光之间的相位差，通过相位差计算时间差，计算最终的距离数据。在对由障碍物反射回的探测光进行采样过程中，需要依次进行多次采样，例如四次，这将限制基于相位差的TOF测距方法的测试速度，即在每个角度，因为一个距离数据的获得，需要多次的探测采样过程，增加了探测的时间，单位时间内只能得到有限的距离信息。另外，现有的基于相位差的TOF测距方法对传感器的使用具有局限性，传感器中的不同传感器单元不能够独立工作，在一次的工作进程中，所有的传感器单元只能进行一种相同模式的工作，不同的功能探测需要单独进行，例如对于不同的积分时间、不同的信号采样、背景光探测等，不能够同时并行，增加了完成距离探测过程所耗费的时间。

本申请提出一种具有面阵光电传感器的探测装置及探测方法，面阵光电传感器中的光电传感器单元能够灵活、快速地完成距离探测。

发明内容

本申请提供一种具有面阵光电传感器的探测方法。具体而言，一种探测方法， 探测装置中的光发射模块发出红外探测光，所述红外探测光射向环境中，遇到被测物体被反射；接收模块接收由被测物体反射的红外探测光，所述接收模块得到由被测物体反射的红外探测光的采样信息；数据处理控制模块依据接收模块得到的采样信息，基于飞行时间法计算出探测装置与被测物体之间的距离；所述接收模块中具有面阵光电传感器，所述面阵光电传感器中的光电传感器单元能够独立得到采样信息。

在其中的一实施例中，所述面阵光电传感器中的光电传感器单元能够同时独立得到相同相位的采样信息、或者能够同时独立得到多个不同相位的采样信息。

在其中的一实施例中，所述接收模块得到由被测物体反射的红外探测光的四次或者两次采样信息。

在其中的一实施例中，相邻两次的所述采样信息为相差1/4调制周期的两次采样信息。

在其中的一实施例中，所述接收模块能够得到由被测物体反射回的红外探测光的灰度图像。

在其中的一实施例中，所述面阵光电传感器中的每个光电传感器单元在每次的探测采样过程中，进行相同相位的探测采样，依次得到两个或者四个不同的采样信息。

在其中的一实施例中，将所述面阵光电传感器中所有光电传感器单元的采样信息相加，数据处理控制模块通过所有光电传感器单元相加后的采样信息，基于飞行时间法计算出探测装置与被测物体之间的距离。