[发明专利]探测方法与装置有效

专利信息
申请号: 201710058648.8 申请日: 2017-01-23
公开(公告)号: CN106841242B 公开(公告)日: 2019-02-22
发明(设计)人: 刘智慧;张政阳 申请(专利权)人: 刘智慧;张政阳
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01N23/06;G01V5/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 张洋;黄健
地址: 100089*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 探测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种探测方法,其特征在于,包括:

调整射线的单次照射范围和所述射线的照射频率;

根据所述射线的单次照射范围和所述射线的照射频率,对待检测对象进行照射,获得所述待检测对象的不同检测范围对应的第一图像,所述待检测对象包括至少一个检测范围;

根据每个所述第一图像,获得所述待检测对象的目标照射图像;

所述调整射线的单次照射范围和所述射线的照射频率,具体包括:

根据所述待检测对象的体积,确定所述射线的单次照射范围;

根据所述射线的单次照射范围和所述待检测对象的运动速度,确定所述射线的照射频率。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

判断所述第一图像是否满足预设条件;

若否,将所述第一图像中不符合所述预设条件的部分作为新的照射范围;

根据所述预设条件调整所述射线的照射能量,获得新的照射能量;

采用所述新的照射能量照射所述新的照射范围,获得新的第一图像。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述预设条件包括目标阴影面积,判断所述第一图像是否满足预设条件,具体包括:

解析所述第一图像,获取所述第一图像的阴影面积;

判断所述第一图像的阴影面积是否小于或等于目标阴影面积。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,探测装置为安检仪,所述调整射线的单次照射范围,具体可以包括:

调整所述安检仪中的电荷耦合元件CCD的排列方式,确定所述射线的单次照射范围。

5.一种探测装置,其特征在于,包括:

调整模块,用于调整射线的单次照射范围和所述射线的照射频率;

检测获取模块,用于根据所述射线的单次照射范围和所述射线的照射频率,对待检测对象进行照射,获得所述待检测对象的不同检测范围对应的第一图像;

获取模块,用于根据每个所述第一图像,获得所述待检测对象的目标照射图像;

所述调整模块,具体用于根据所述待检测对象的体积,确定所述射线的单次照射范围,并根据所述射线的单次照射范围和所述待检测对象的运动速度,确定所述射线的照射频率。

6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:判断模块,

所述判断模块,用于判断所述第一图像是否满足预设条件;

所述检测获取模块,还用于在所述判断模块判断所述第一图像不满足预设条件时,将所述第一图像中不符合预设条件的部分作为新的照射范围,并根据所述预设条件调整所述射线的照射能量,获取新的照射能量,采用所述新的照射能量照射所述新的照射范围,获得新的第一图像。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述判断模块包括解析单元和判断单元:

所述解析单元,用于解析所述第一图像,获取所述第一图像的阴影面积;

所述判断单元,用于判断所述第一图像的阴影面积是否小于或等于目标阴影面积。

8.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述探测装置为安检仪,所述调整模块,还用于调整所述安检仪中的电荷耦合元件CCD的排列方式,确定所述射线的单次照射范围。

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