[发明专利]探测方法与装置有效
申请号: | 201710058648.8 | 申请日: | 2017-01-23 |
公开(公告)号: | CN106841242B | 公开(公告)日: | 2019-02-22 |
发明(设计)人: | 刘智慧;张政阳 | 申请(专利权)人: | 刘智慧;张政阳 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01N23/06;G01V5/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 张洋;黄健 |
地址: | 100089*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 探测 方法 装置 | ||
1.一种探测方法,其特征在于,包括:
调整射线的单次照射范围和所述射线的照射频率;
根据所述射线的单次照射范围和所述射线的照射频率,对待检测对象进行照射,获得所述待检测对象的不同检测范围对应的第一图像,所述待检测对象包括至少一个检测范围;
根据每个所述第一图像,获得所述待检测对象的目标照射图像;
所述调整射线的单次照射范围和所述射线的照射频率,具体包括:
根据所述待检测对象的体积,确定所述射线的单次照射范围;
根据所述射线的单次照射范围和所述待检测对象的运动速度,确定所述射线的照射频率。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
判断所述第一图像是否满足预设条件;
若否,将所述第一图像中不符合所述预设条件的部分作为新的照射范围;
根据所述预设条件调整所述射线的照射能量,获得新的照射能量;
采用所述新的照射能量照射所述新的照射范围,获得新的第一图像。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述预设条件包括目标阴影面积,判断所述第一图像是否满足预设条件,具体包括:
解析所述第一图像,获取所述第一图像的阴影面积;
判断所述第一图像的阴影面积是否小于或等于目标阴影面积。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,探测装置为安检仪,所述调整射线的单次照射范围,具体可以包括:
调整所述安检仪中的电荷耦合元件CCD的排列方式,确定所述射线的单次照射范围。
5.一种探测装置,其特征在于,包括:
调整模块,用于调整射线的单次照射范围和所述射线的照射频率;
检测获取模块,用于根据所述射线的单次照射范围和所述射线的照射频率,对待检测对象进行照射,获得所述待检测对象的不同检测范围对应的第一图像;
获取模块,用于根据每个所述第一图像,获得所述待检测对象的目标照射图像;
所述调整模块,具体用于根据所述待检测对象的体积,确定所述射线的单次照射范围,并根据所述射线的单次照射范围和所述待检测对象的运动速度,确定所述射线的照射频率。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:判断模块,
所述判断模块,用于判断所述第一图像是否满足预设条件;
所述检测获取模块,还用于在所述判断模块判断所述第一图像不满足预设条件时,将所述第一图像中不符合预设条件的部分作为新的照射范围,并根据所述预设条件调整所述射线的照射能量,获取新的照射能量,采用所述新的照射能量照射所述新的照射范围,获得新的第一图像。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述判断模块包括解析单元和判断单元:
所述解析单元,用于解析所述第一图像,获取所述第一图像的阴影面积;
所述判断单元,用于判断所述第一图像的阴影面积是否小于或等于目标阴影面积。
8.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述探测装置为安检仪,所述调整模块,还用于调整所述安检仪中的电荷耦合元件CCD的排列方式,确定所述射线的单次照射范围。
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