[发明专利]量具及其读数方法

说明书

本发明实施例公开了一种量具及其读数方法，涉及测量技术领域。所述量具包括：基座、运动构件、滑块；所述基座上设置第一刻度，所述滑块上设置第二刻度；所述基座上安装所述运动构件，所述运动构件上安装所述滑块。本发明实施例所述的量具，通过增加了辅助进行精读的刻度，在不改变运动构件精度和组装工艺的前提下，以极小的改造成本减小了人眼读数的误差，有效地提升了平台的读数精度。

技术领域

本发明实施例涉及测量技术领域，特别是量具及其读数方法。

背景技术

在精度要求不高的直线运动位置标记领域，凭借人眼读数的粗调平台因其高性价比而被广泛应用。此类平台采用单一刻度，通过人眼读取位移数据，其精度取决于标记的最小刻度。在决定平台精度的几个重要因素中，平台的制造和组装工艺精度是远远高于分度值的。

发明人在研究本申请的过程中发现，现有技术中至少存在以下技术问题：

因为单一刻度的读数方式，人眼读数存在较大随机性和系统误差，消耗了原有的运动副制造精度和组装工艺精度，使平台的整体精度不能得到保证。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题是，单一刻度中人眼读数的误差较大。

为了解决上述技术问题，本发明实施例所述的量具及其读数方法采用了如下所述的技术方案：

一种量具，包括：基座、运动构件、滑块；

所述基座上设置第一刻度，所述滑块上设置第二刻度；

所述基座上安装所述运动构件，所述运动构件上安装所述滑块。

所述运动构件与所述滑块固定连接，所述运动构件的运动与所述滑块的运动相对所述基座同步。

进一步，所述的量具，所述第一刻度的分度值大于所述第二刻度的分度值。

进一步，所述的量具，当所述滑块位于右极限位置时，所述第一刻度的零刻度线与所述第二刻度的零刻度线对齐；

当所述滑块位于左极限位置处时，所述第一刻度的最大刻度示数的刻度线与所述第二刻度的零刻度线对齐。

进一步，所述的量具，所述基座上还设置辅刻度，当所述第二刻度的刻度线不与所述第一刻度的刻度线对齐时，所述辅刻度用于观察与所述第二刻度的刻度线的对齐。

进一步，所述的量具，所述辅刻度为所述第一刻度的延伸，所述辅刻度的起始刻度线与所述第一刻度的最大刻度示数的刻度线重合，所述辅刻度的量程大于所述第二刻度的量程。

进一步，所述的量具，所述辅刻度的分度值与所述第一刻度的分度值相同。

一种量具的读数方法，应用于上述任意一种技术方案中的所述量具，包括：

设置第一刻度的精度以及第二刻度的精度；

根据所述第二刻度的零刻度线与所述第一刻度的刻度线对齐的位置进行粗读：

当所述第二刻度的零刻度线与所述第一刻度的某一刻度线对齐时，该刻度线的读数即为最终读数；

当所述第二刻度的零刻度线间于所述第一刻度相邻的两条刻度线时，以所述相邻的两条刻度线的较小读数为粗读示数；所述第二刻度上与所述第一刻度对齐的刻度线的读数为精读示数；根据公式J1×X1+(J1-J2)×Y计算最终读数，其中，J1为所述第一刻度的精度，J2为所述第二刻度的精度，X1为所述粗读示数，Y为所述精读示数。

进一步，所述的量具的读数方法，所述第一刻度的精度＝L/M，其中，L为所述第一刻度的量程，M为所述第一刻度的量程的等分数；

所述第二刻度的精度与所述第一刻度的精度计算方法相同。