[发明专利]量具及其读数方法在审
| 申请号： | 201710052886.8 | 申请日： | 2017-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN108344340A | 公开（公告）日： | 2018-07-31 |
| 发明（设计）人： | 李开明;王晓聪;吴志宏;李剑锋;黎方琦;高云峰 | 申请（专利权）人： | 大族激光科技产业集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00 |
| 代理公司： | 深圳市世联合知识产权代理有限公司 44385 | 代理人： | 汪琳琳 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 运动构件 量具 滑块 测量技术领域 组装工艺 有效地 减小 人眼 改造 | ||
1.一种量具，其特征在于，包括：基座(1)、运动构件(2)、滑块(3)；
所述基座(1)上设置第一刻度(11)，所述滑块(3)上设置第二刻度(31)；
所述基座(1)上安装所述运动构件(2)，所述运动构件(2)上安装所述滑块(3)。
所述运动构件(2)与所述滑块(3)固定连接，所述运动构件(2)的运动与所述滑块(3)的运动相对所述基座(1)同步。
2.根据权利要求1所述的量具，其特征在于，所述第一刻度(11)的分度值大于所述第二刻度(31)的分度值。
3.根据权利要求1所述的量具，其特征在于，当所述滑块(3)位于右极限位置时，所述第一刻度(11)的零刻度线与所述第二刻度(31)的零刻度线对齐；
当所述滑块(3)位于左极限位置处时，所述第一刻度(11)的最大刻度示数的刻度线与所述第二刻度(31)的零刻度线对齐。
4.根据权利要求1所述的量具，其特征在于，所述基座(1)上还设置辅刻度(12)，当所述第二刻度(31)的刻度线不与所述第一刻度(11)的刻度线对齐时，所述辅刻度(12)用于观察与所述第二刻度(31)的刻度线的对齐。
5.根据权利要求4所述的量具，其特征在于，所述辅刻度为所述第一刻度(11)的延伸，所述辅刻度(12)的起始刻度线与所述第一刻度(11)的最大刻度示数的刻度线重合，所述辅刻度(12)的量程大于所述第二刻度(31)的量程。
6.根据权利要求5所述的量具，其特征在于，所述辅刻度(12)的分度值与所述第一刻度(11)的分度值相同。
7.一种量具的读数方法，其特征在于，应用于权利要求1-8任意一项所述的量具，包括：
设置第一刻度的精度以及第二刻度的精度；
根据所述第二刻度的零刻度线与所述第一刻度的刻度线对齐的位置进行粗读：
当所述第二刻度的零刻度线与所述第一刻度的某一刻度线对齐时，该刻度线的读数即为最终读数；
当所述第二刻度的零刻度线间于所述第一刻度相邻的两条刻度线时，以所述相邻的两条刻度线的较小读数为粗读示数；所述第二刻度上与所述第一刻度对齐的刻度线的读数为精读示数；根据公式J1×X1+(J1-J2)×Y计算最终读数，其中，J1为所述第一刻度的精度，J2为所述第二刻度的精度，X1为所述粗读示数，Y为所述精读示数。
8.根据权利要求7所述的量具的读数方法，其特征在于，所述第一刻度的精度＝L/M，其中，L为所述第一刻度的量程，M为所述第一刻度的量程的等分数；
所述第二刻度的精度与所述第一刻度的精度计算方法相同。
9.根据权利要求7所述的量具的读数方法，其特征在于，还包括：使用所述辅刻度得到所述精读示数；
所述第二刻度上与所述辅刻度对齐的刻度线的读数即为精读示数。
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