[发明专利]测试分选机用插接件有效
| 申请号: | 201710043973.7 | 申请日: | 2017-01-19 |
| 公开(公告)号: | CN107024605B | 公开(公告)日: | 2019-10-22 |
| 发明(设计)人: | 郑震午;张宰禹 | 申请(专利权)人: | 泰克元有限公司 |
| 主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 李盛泉;孙昌浩 |
| 地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测试 分选 插接 | ||
1.一种测试分选机用插接件,包括:
主体,形成有能够插入半导体元件的插孔;
支撑部件,从所述插孔的一侧支撑插入到所述插孔的半导体元件;
固定部件,将所述支撑部件固定于所述主体;以及
闩锁装置,用于在所述插孔内维持半导体元件,
其中,所述支撑部件形成有用于将半导体元件的端子朝向测试机侧开放的多个开放孔,以使被所述支撑部件所支撑的半导体元件的端子电接触于测试机的测试插座,
所述支撑部件在与存在于测试机的压敏导电橡胶类型的测试插座相向的对向面侧具有当半导体元件的端子接触于测试插座时能够收容被推挤的柔性材料的收容空间,从而能够防止测试插座的被推挤的柔性材料压迫所述支撑部件,
所述收容空间以如下方式配备:
所述多个开放孔中的至少一部分开放孔形成为所述对向面侧的内径比起相反于所述对向面侧的相反面侧的内径更大。
2.如权利要求1所述的测试分选机用插接件,其中,构成所述一部分开放孔的内壁从所述相反面侧朝向所述对向面侧形成倾斜,从而使所述对向面侧的内径更大于所述相反面侧的内径。
3.如权利要求1所述的测试分选机用插接件,其中,构成所述一部分开放孔的内壁形成台阶形状,从而使所述对向面侧的内径更大于所述相反面侧的内径。
4.一种测试分选机用插接件,包括:
主体,形成有能够插入半导体元件的插孔;
支撑部件,从所述插孔的一侧支撑插入到所述插孔的半导体元件;
固定部件,将所述支撑部件固定于所述主体;以及
闩锁装置,用于在所述插孔内维持半导体元件,
其中,所述支撑部件形成有用于将半导体元件的端子朝向测试机侧开放的多个开放孔,以使被所述支撑部件所支撑的半导体元件的端子电接触于测试机的测试插座,
所述支撑部件在与存在于测试机的压敏导电橡胶类型的测试插座相向的对向面侧具有当半导体元件的端子接触于测试插座时能够收容被推挤的柔性材料的收容空间,从而能够防止测试插座的被推挤的柔性材料压迫所述支撑部件,
所述收容空间形成于所述多个开放孔中的一部分开放孔侧,所述多个开放孔中除了所述一部分开放孔之外的其余开放孔的数量多于所述一部分开放孔的数量。
5.如权利要求4所述的测试分选机用插接件,其中,所述一部分开放孔的相反面侧的内径小于所述其余开放孔的内径。
6.如权利要求5所述的测试分选机用插接件,其中,所述一部分开放孔的对向面侧的内径相同于或者大于所述其余开放孔的内径。
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