[发明专利]一种井眼校正的系统及方法

说明书

本发明涉及一种井眼校正的系统及方法，该系统包括仪器测量装置和井眼校正装置，井眼校正装置包括：初级数据处理模块和井眼校正模块。初级数据处理模块，用于接收阵列感应测量信号并对阵列感应测量信号进行趋肤效应校正的初级处理，获得趋肤效应校正测量数据。井眼校正模块，用于根据趋肤效应校正测量数据进行分辨率匹配处理，获得分辨率匹配处理数据；根据分辨率匹配处理数据计算获得阵列对应的井眼环境数据并根据阵列对应的井眼环境数据计算获得井眼校正的数据。本发明基于井眼几何因子特性，在考虑泥浆侵入特性的基础上，反演小直径阵列感应井眼影响，即可以实现常规井眼校正效果，也可以实现大井径，井内外电特征差异较大等恶劣条件下的井眼校正。

技术领域

本发明涉及地球物理测井领域，具体涉及一种小直径阵列感应测井的井眼校正的系统及方法。

背景技术

地球物理测井是在井孔中测量地层的电、声、放射性等物理性质，以辨别地层岩石和流体性质的方法，是勘探和开发油气，金属等矿产资源的重要手段。

多年来，关于井眼校正方法有很多，国外Schlumberger通过正演计算井眼响应数据库，然后利用切比雪夫多项式拟合该数据库。在实际测井过程中，利用拟合多项式计算井眼响应，通过4个短子阵列测量值进行最小二乘非线性反演泥浆、井眼尺寸和地层电导率值，最后对测量信号进行井眼校正。具体见US Patent 5041975。Baker Atlas采用样条插值函数拟合井眼影响。Halliburton基于几何因子建立井眼影响校正方法。中石油测井公司的MIT基于井眼校正库和均值响应库可以消除未经趋肤校正测井数据的井眼影响。具体见CN102562047 A。虽然这些方法均实际应用到测井过程中，并取得一定的效果，然而其井眼校正方法都假设多个短子阵列的地层电导率值环境是相同，等效于多个子阵列视电导率值的加权平均值，由此基于多个子阵列共同反演井眼影响，这种假设混淆了泥浆侵入特征。当仪器所处地层为孔隙度渗透率较好的砂岩层或者泥浆与地层电导率值差异较大时，以上方法基于的假设会给后续信号处理方法带来误差。对于小直径阵列感应而言，由于其应用的主要方式是过钻头测量，所处的井眼直径覆盖多个井眼尺寸(根据地质环境选择多种钻头尺寸)，多个短子阵列随着泥浆、侵入的变化特征更加明显，此时为了获得更加理想的井眼校正效果，选择对应子阵列的可靠的地层电导率值十分关键。普拉德研究及开发股份有限公司也提出用于感应测井井眼校正的有效地层电导率值方法，但是方法的迭代过程及收敛条件都十分复杂，具体见CN 101191838。

井眼环境十分的恶劣，尤其是在井眼尺寸较大或者井内外电导率值特征差异较大的条件下，常规的井眼校正可能无法反应真实的井眼情况。

发明内容

本发明的目的是解决上述问题，提出了一种针对小直径阵列感应测井的井眼校正系统及方法，基于井眼几何因子特性，通过考虑泥浆侵入特性的基础上，反演小直径阵列感应测井影响，可实现多个井眼尺寸和井内外导电率差异较大等复杂井眼情况下的井眼参数校正。

为实现上述目的，一方面，本发明提供了一种井眼校正的装置，包括：仪器测量装置和井眼校正装置，其中,井眼校正装置包括：初级数据处理模块和井眼校正模块。

初级数据处理模块，用于接收阵列感应测量信号并对阵列感应测量信号进行趋肤效应校正的初级处理，获得趋肤效应校正测量数据，并将趋肤效应校正测量数据发送至井眼校正模块。

井眼校正模块，用于接收趋肤效应校正测量数据；根据趋肤效应校正测量数据进行分辨率匹配处理，获得分辨率匹配处理数据；根据分辨率匹配处理数据计算获得阵列对应的井眼环境数据并根据阵列对应的井眼环境数据计算获得井眼校正的数据。

优选地，井眼校正模块包括：分辨率匹配单元、地层初始模型估算单元、井眼校正库单元、井眼环境ARRAY1计算单元、井眼环境ARRAYX计算单元和井眼环境校正单元中的一种或多种。